[发明专利]放射线图像检测装置及放射线图像摄影系统

权利要求书

1.一种放射线图像检测装置，具备将放射线转换为光的波长转换层和检测所述光而生成图像数据的固体检测器，从摄影时由放射线源照射的放射线入射的一侧起依次配置有所述固体检测器和所述波长转换层，所述放射线图像检测装置的特征在于，

所述波长转换层具有：第一荧光体粒子分散于粘合剂而得到的第一荧光体层及平均粒径比所述第一荧光体粒子小的第二荧光体粒子分散于粘合剂而得到的第二荧光体层，

所述第一荧光体层配置于比所述第二荧光体层靠所述固体检测器侧，并且接合或压靠于所述固体检测器，

所述第一荧光体层及第二荧光体层每单位厚度的所述粘合剂的重量以朝向所述固体检测器侧逐渐地变小的方式分布。

2.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第一荧光体粒子具有：具有第一平均粒径的第一小荧光体粒子及具有比所述第一平均粒径大的第二平均粒径的第一大荧光体粒子。

3.根据权利要求2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第一小荧光体粒子与所述第一大荧光体粒子的重量比为20％～40％。

4.根据权利要求3所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第一平均粒径为1μm以上且小于5μm，所述第二平均粒径为5μm以上且12μm以下。

5.根据权利要求2所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第二荧光体粒子具有：具有第三平均粒径的第二小荧光体粒子及具有比所述第三平均粒径大的第四平均粒径的第二大荧光体粒子。

6.根据权利要求5所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第二小荧光体粒子与所述第二大荧光体粒子的重量比为20％～40％。

7.根据权利要求6所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第三平均粒径为1μm以上且小于5μm，所述第四平均粒径为5μm以上且12μm以下。

8.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述第一荧光体粒子及第二荧光体粒子由A₂O₂S:X形成，其中A是Y、La、Gd、Lu中的任一个，X是Eu、Tb、Pr中的任一个。

9.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

在所述波长转换层的与所述固体检测器相反的一侧，具备对所述波长转换层进行支撑的支撑体。

10.根据权利要求9所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述波长转换层和所述支撑体通过加热压缩而接合。

11.根据权利要求9所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

所述支撑体在与所述波长转换层相向的面具有光反射层。

12.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于，

具备对所述波长转换层的周缘的侧面进行覆盖的封边部件。

13.一种放射线图像摄影系统，具备：

放射线源，射出放射线；及

放射线图像检测装置，具有将所述放射线转换为光的波长转换层和检测所述光而生成图像数据的固体检测器，从所述放射线入射的一侧起所述固体检测器和所述波长转换层按此顺序配置，

所述放射线图像摄影系统的特征在于，

所述波长转换层具有：第一荧光体粒子分散于粘合剂而得到的第一荧光体层及平均粒径比所述第一荧光体粒子小的第二荧光体粒子分散于粘合剂而得到的第二荧光体层，

所述第一荧光体层配置于比所述第二荧光体层靠所述固体检测器侧，并且接合或压靠于所述固体检测器，

所述第一荧光体层及第二荧光体层每单位厚度的所述粘合剂的重量以朝向所述固体检测器侧逐渐地变小的方式分布。

14.根据权利要求13所述的放射线图像摄影系统，其特征在于，

所述第一荧光体粒子具有：具有第一平均粒径的第一小荧光体粒子及具有比所述第一平均粒径大的第二平均粒径的第一大荧光体粒子。

15.根据权利要求14所述的放射线图像摄影系统，其特征在于，

所述第二荧光体粒子具有：具有第三平均粒径的第二小荧光体粒子；及具有比所述第三平均粒径大的第四平均粒径的第二大荧光体粒子。

16.根据权利要求15所述的放射线图像摄影系统，其特征在于，

所述第一荧光体粒子及第二荧光体粒子由A₂O₂S:X形成，其中，A是Y、La、Gd、Lu中的任一个，X是Eu、Tb、Pr中的任一个。