[发明专利]内窥镜装置和内窥镜的偏光元件的劣化检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及内窥镜装置和内窥镜的偏光元件的劣化检测方法。

背景技术

以往，在医疗领域和工业领域中广泛利用内窥镜。例如，在医疗领域中，手术医生将内窥镜的插入部插入到被检体内，在监视器中显示设于插入部的前端部的摄像部进行摄像而得到的被检体内的图像，能够进行被检体内的检查。

在内窥镜的插入部的前端部设有照明窗和观察窗。从照明窗射出照明光并对被检体进行照明，来自被检体的反射光通过观察窗而由摄像元件接收。

在设于内窥镜的照明窗上的照明光学系统和设于观察窗上的观察光学系统中分别设有偏光元件。例如，通过使2个偏光元件的偏光方向为同一方向，摄像元件仅接收来自被检体的粘膜表面的光，能够容易观察粘膜的表面构造。并且，如日本特许第2588460号公报和日本特开2007-143580号公报所公开的那样，通过使2个偏光元件的偏光方向正交，能够防止光晕。

但是，偏光元件由于时间的经过和热而劣化。当偏光元件劣化时，偏光的效果降低。例如，作为偏光元件的性能指标之一的消光比降低。消光比是2个偏光元件的偏光方向平行的状态下的光的透射量相对于2个偏光元件的偏光方向相互正交的正交偏光状态下的光的透射量的比率。

由于偏光元件逐渐劣化，所以，手术医生仅观察内窥镜图像，很难注意到偏光元件的劣化。当偏光元件劣化时，无法得到最佳状态的内窥镜图像，因此，手术医生可能无法进行正确的检查、诊断等。以往，并未提出检测设于内窥镜中的偏光元件的劣化的方法。

因此，本发明的目的在于，提供能够检测设于内窥镜中的偏光元件的劣化的内窥镜装置和内窥镜的偏光元件的劣化检测方法。

发明内容

用于解决课题的手段

本发明的一个方式的内窥镜装置具有：存储部，其存储通过偏光元件对被摄体进行摄像的内窥镜的内窥镜图像的彩色平衡调整值的基准值；变化量计算部，其根据所述基准值和经过规定的时间后的所述内窥镜的所述彩色平衡调整值，计算所述彩色平衡调整值的变化量；判定部，其判定计算出的所述变化量是否为规定的阈值以上；以及输出部，其在所述变化量为规定的阈值以上时进行规定的输出。

在本发明的一个方式的内窥镜的偏光元件的劣化检测方法中，在存储部中存储通过偏光元件对被摄体进行摄像的内窥镜的内窥镜图像的彩色平衡调整值的基准值，根据所述基准值和经过规定的时间后的所述内窥镜的所述彩色平衡调整值，计算所述彩色平衡调整值的变化量，判定计算出的所述变化量是否为规定的阈值以上，在所述变化量为规定的阈值以上时进行规定的输出。

本发明的一个方式的内窥镜装置具有：存储部，其存储与通过偏光元件对被摄体进行摄像的内窥镜连接的光源装置的调光值的基准值；变化量计算部，其根据所述基准值和经过规定的时间后的所述光源装置的调光值，计算所述光源装置的调光值的变化量；判定部，其判定计算出的所述变化量是否为规定的阈值以上；以及输出部，其在所述变化量为规定的阈值以上时进行规定的输出。

在本发明的一个方式的内窥镜的偏光元件的劣化检测方法中，在存储部中存储与通过偏光元件对被摄体进行摄像的内窥镜连接的光源装置的调光值的基准值，根据所述基准值和经过规定的时间后的所述光源装置的调光值，计算所述光源装置的调光值的变化量，判定计算出的所述变化量是否为规定的阈值以上，在所述变化量为规定的阈值以上时进行规定的输出。

附图说明

图1是示出本发明的第1实施方式的内窥镜装置的示意性结构的结构图。

图2是示出本发明的第1实施方式的控制部21的结构的框图。

图3A是用于说明本发明的第1实施方式的偏光元件18a、18b各自的与时间的经过相对应的透射率的特性的例子的图。

图3B是示出其他偏光元件的透射率的特性的例子的图。

图4是示出本发明的第1实施方式的内窥镜2的闪存19中存储的信息的例子的图。

图5是示出本发明的第1实施方式的基准彩色平衡调整值Rg的设定过程的流程的例子的流程图。

图6是示出本发明的第1实施方式的检测内窥镜2的偏光元件的劣化的处理的流程的例子的流程图。

图7是示出图6的白平衡处理(S14)的流程的例子的流程图。

图8是示出本发明的第2实施方式的内窥镜装置1A的示意性结构的结构图。

图9是示出本发明的第2实施方式的内窥镜2的闪存19中存储的信息的例子的图。

图10是示出本发明的第2实施方式的基准调光值Rga的设定过程的流程的例子的流程图。