[发明专利]X射线计算机断层摄影装置校准和验证设备

权利要求书

1.一种用于校准x射线计算机断层摄影装置的设备，所述设备包括：

多个物体，所述多个物体由对于x射线来说可见的材料形成，所述多个物体被构造为接收x射线而没有改变形状，所述多个物体中的每一个具有基本上相同的形状，所述物体均具有针对x射线的物体衰减值，所述多个物体中的每一个具有中心点并且具有相对于其中心点对称的形状；

基底，所述基底至少部分地固定地支撑所述多个物体使得所述多个物体中的每一个接触其它物体中的至少一个，所述基底具有针对x射线的基底衰减值，

所述物体衰减值大于所述基底衰减值，

所述多个物体中的每一个被运动学地锁定在所述基底上。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体中的每一个包括蓝宝石和红宝石材料中的至少一种。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述基底包括陶瓷。

4.根据权利要求1所述的设备，所述设备进一步包括紧固部件，所述紧固部件将力施加到所述多个物体，所述紧固部件与所述基底协作以将所述多个物体固定地紧固为基本上不可移动。

5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体具有球形形状，所述球形形状具有至少0.01毫米的精度。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体和所述基底具有不大于钢的热膨胀系数的热膨胀系数。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体沿直线取向。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，每个物体被运动学地锁定而在所述物体之间没有任何外部锁定组件。

9.根据权利要求1所述的设备，其中，每个物体在与其它物体和所述基底存在不超过四个接触点的情况下被最低程度地约束。

10.根据权利要求1所述的设备，其中，所述基底包括沟槽，所述沟槽具有基本上直且平的表面。

11.根据权利要求10所述的设备，其中，所述沟槽形成V形状，该V形状具有大约60度至120度的角度。

12.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体中的每一个具有不超过大约10毫米的最大尺寸，所述多个物体中的每一个具有相同的最大尺寸。

13.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体是精确研磨或层叠的物体。

14.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体中的每一个包括其尺寸性质中的至少一个的验证。

15.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个物体中的每一个是独立式物体。

16.根据权利要求1所述的设备，所述设备包括三个或更多个物体。

17.一种校准或验证x射线计算机断层摄影机的尺寸准确性的方法，所述方法包括：

提供具有校准设置的x射线计算机断层摄影机；

使用所述x射线计算机断层摄影机来对计量器进行成像以产生计量器重建，所述计量器包括至少部分地支撑三个或更多个物体的基底，所述物体中的每一个被运动学地紧固在所述基底上，所述物体中的每一个具有中心，每个物体的中心之间的距离是已知的中心距离值；

在所述计量器重建中测量至少两对物体之间的距离以产生测量的中心距离值；

将所述测量的中心距离值与所述已知的中心距离值进行比较；以及

使用所述比较来确定在所述计量器重建中是否存在距离误差。

18.根据权利要求17所述的方法，所述方法进一步包括：

在所述比较确定在所述计量器重建中存在距离误差的情况下，修改所述x射线计算机断层摄影机的校准设置。

19.根据权利要求18所述的方法，所述方法进一步包括：

确定每个测量的中心距离值与相关的已知的中心距离值之间的差，修改是每个差的函数的校准设置。

20.根据权利要求17所述的方法，其中，使用所述X射线包括：

从多个不同的投影产生所述计量器的多个重建，所述方法进一步将每个投影中的所述物体的所述测量的中心距离值与相应的已知的中心距离值比较以对计算机断层摄影机进行校准。