[实用新型]一种激光器LIV低温性能的无损测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及激光器的产品检测领域，更具体的说涉及一种激光器LIV低温性能的无损测试装置。

背景技术

随着光电子技术和信息技术的发展，半导体激光器在光纤通信、信息存储等领域得到了广泛的应用。作为系统的光源，激光器特性的劣势直接影响着系统的性能。因此，在生产和使用过程中，需要精确地测试其LIV特性曲线和相关参数。

由此，市场上开发出了各种激光器二极管LIV测试系统，其可以集微机控制、数据采集、数据处理、图表显示、数据备份导入和数据图表打印功能为一体，且能将测试结果用图表形象直观的显示出来。

但是，由于激光器的应用地域非常广泛，其不可避免会在寒冷的地域下工作，如此对其低温性能的测试要求也迫在眉睫（特别是急需满足市场上大批量生产测试要求时），但现有系统中并未针对此提供具体的解决方案，着实存在改进的空间。

有鉴于此，本发明人针对现有技术中的上述缺陷深入研究，遂有本案产生。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种激光器LIV低温性能的无损测试装置，以解决现有技术无法专门进行低温性能测试的问题。

为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是：

一种激光器LIV低温性能的无损测试装置，其中，包括制冷箱、保温平台、致冷接触测试座、上盖以及若干个测试单元，该上盖转动设置在保温平台上，该保温平台与上盖之间形成容纳腔，该容纳腔通过由内置的致冷接触测试座而进行快速热量传导，每一测试单元均设置在容纳腔内，若干个测试单元共有同一个致冷接触测试座以及位于致冷接触测试座下方且与每一测试单元相对应的电路板，每一测试单元上形成有分别供激光器插置以及电源线插置的致冷接触插口和供电插口。

进一步，该保温平台嵌设在制冷箱的上方，该保温平台采用保温材料制成，该致冷接触测试座采用导热材料制成。

进一步，每一测试单元中的焊锡和管脚上均涂覆有绝缘胶。

采用上述结构后，本实用新型涉及的一种激光器LIV低温性能的无损测试装置，在需要对激光器进行LIV低温性能测试时，先将激光器插入致冷接触插口，使激光器管座底面与致冷接触测试座表面完全接触，转动上盖而密封住容纳腔，调节制冷箱温度让整个容纳腔处于待测试的温度下，过一段时间后，打开上盖，再利用测试系统对激光器进行测试，以达到测试低温性能的功效。

与现有技术相比，本实用新型在对激光器进行低温性能测试时，可使激光器迅速致冷，且无需移动激光器，以保证激光器在低温环境下被测试，且测试完毕后激光器在外观上不会受到任何损伤。

附图说明

图1为本实用新型涉及一种激光器LIV低温性能的无损测试装置将激光器和光纤连接线都配置时的整体结构示意图；

图2为本实用新型涉及一种激光器LIV低温性能的无损测试装置未做测试时的示意图。

图中：

制冷箱            1        保温平台           2

上盖              3        测试单元           4

致冷接触测试座    41       致冷接触插口       411

供电插口          412      容纳腔             5

激光器            6。

具体实施方式

为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。

如图1和图2所示，本实用新型涉及的一种激光器LIV低温性能的无损测试装置，包括制冷箱1、保温平台2、致冷接触测试座41、上盖3以及若干个测试单元4，该上盖3转动设置在保温平台2上，该保温平台2与上盖3之间形成容纳腔5，该容纳腔5通过由内置的致冷接触测试座41而进行快速热量传导，而使其与制冷箱1产生热交换，从而达到由制冷箱1快速控制容纳腔5温度的目的。

每一测试单元4均设置在容纳腔5内，在本实施例中，每一测试单元4均呈方形体（具体地，其共用同一个致冷接触测试座41），如图1和图2，该容纳腔5中设置了10个测试单元4。

具体地，每一测试单元4均具有致冷接触测试座41的一部分以及位于致冷接触测试座41下方的每一测试单元的独立电路板（图中未示出），该致冷接触测试座41上形成有10个致冷接触插口411和10个供电插口412，该致冷接触插口411用于供激光器6插置而可方便地与电路板相连，该供电插口412则可供电源线插置而为电路板提供电源供给。