[实用新型]测试针座

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测技术领域，尤其涉及一种测试针座。

背景技术

在现有技术中，通常采用公母座对扣来检测受测PCB板，但是在插拔公母座的过程中，公母座容易损坏，从而造成浪费；通常一对公母座只能测试300次，超过300次后该对公母座测试就容易产生误测；公母座相对扣较耗费时间。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种测试针座，旨在大批量测试更经济、更稳定和更快捷。

本实用新型提供了一种测试针座，包括：多根探针、PCB板和安装座；所述安装座包括贯通孔，所述贯通孔延伸贯通于所述安装座的上表面和下表面之间，所述多根探针容置于所述安装座的贯通孔内，每个所述探针的两侧的针头分别轴向穿出所述贯通孔而露于安装座的外面；所述PCB板固设于所述安装座的下侧，所述PCB板包括输入端与输出端，所述探针的下侧的针头与所述PCB板的输入端相抵触，所述PCB板的输出端用于与测试设备的输入端电连接。

优选地，所述安装座包括固定板、针板和导柱，其中：

所述固定板用于与所述测试设备相固定，所述针板设于所述固定板的上方，所述PCB板设于所述固定板的下方，所述固定板上设有贯通其上表面和下表面的导柱孔，所述导柱穿于所述导柱孔，所述导柱的上下两端分别与所述针板和所述PCB板相固定；所述固定板上设有第一探针孔，所述针板上设有第二探针孔，所述第一探针孔和所述第二探针孔竖向对齐，所述探针穿于所述固定板的第一探针孔和所述针板的第二探针孔，且所述探针的下侧的针头朝下穿出所述固定板的第一探针孔，所述探针的上侧的针头朝上穿出所述针板的第二探针孔。

优选地，所述探针与所述针板固定。

优选地，所述安装座还包括定位护板，所述定位护板设于所述针板的上方，并且所述定位护板可沿所述探针的轴向活动，所述定位护板设有第三探针孔，所述第三探针孔用于与受测产品的插头相卡合，所述探针的上侧的针头朝上穿出所述定位护板的第三探针孔。

优选地，所述安装座包括沿着所述探针的轴向设置的弹性定位销，所述定位护板通过所述弹性定位销与所述针板活动地连接。

优选地，所述固定板和所述针板之间还设有弹性件。

优选地，所述弹性件为螺旋的线性压缩弹簧，且所述线性压缩弹簧套于所述导柱上。

优选地，所述安装座还包括设于所述PCB板和所述固定板之间的第一线盘板，所述第一线盘板设有第四探针孔，所述探针的下侧的针头朝下穿出所述第四探针孔，所述导柱通过所述第一线盘板与所述PCB板相固定。

优选地，所述安装座还包括设于所述弹性件与所述针板之间的第二线盘板，所述第二线盘板设有第五探针孔，所述探针穿于所述第五探针孔。

优选地，还包括与所述PCB板的输出端电连接的转接插座，所述PCB板的输出端与所述测试设备的输入端通过所述转接插座电连接。

本实用新型所公开的测试针座，在测试过程中，仅需将受测产品的插头对准探针的上侧的针头，再与探针的上侧的针头相抵触，即完成测试连接，从而具有测试简单的效果，适用于大批量检测；采用探针与受测产品的插头接触而测试，不易造成探针与受测产品的插头拔插损耗，因此在大量测试中探针能够长时间稳定工作，从而测试针座的测试结果稳定可靠，不易于误判。

附图说明

图1为本实用新型测试针座的优选实施例的结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型，本实用新型中的技术特征在不相互矛盾的情况下都可以任意组合。