[实用新型]电池接触片下陷检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测装置，特别是涉及一种电池接触片下陷检测装置。

背景技术

目前，在锂电池生产领域中，电池接触片下陷过大将导致电池接触不良影响使用，需要对生产的电池进行金砖(即电池接触片)下陷检测，检测时由于其结构限制难以使用卡尺对其下陷深度进行测量，操作不方便，一般采用目测来对电池接触片的下陷深度进行大概的估测，误差较大，产品的次品率高。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术问题，提供一种电池接触片下陷检测装置，能有效检测出电池接触片的下陷情况，检测出次品。

为解决现有技术问题，本实用新型公开了一种电池接触片下陷检测装置，包括底座，所述底座上设有一基准杆，所述基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，所述基准杆的另一侧设有一测量装置，所述基准杆上设有一凹槽，所述测量装置包括一探针，所述探针穿设于所述凹槽内。

进一步地，所述测量装置为百分表。

进一步地，所述基准杆与测量装置之间设有一用于调节探针高度的调节装置。

进一步地，所述调节装置包括一升降块及两条平行的导柱，所述导柱穿过所述升降块的两端，所述升降块上设有一穿孔，所述探针穿过所述穿孔。

进一步地，所述导柱于升降块的下面设有弹簧。

进一步地，所述升降块上设有一用于调节升降块至底座之间的距离的调节螺丝。

进一步地，所述定位结构包括左固定块和右固定块，所述底座于定位结构的一侧设有若干个定位孔，所述左固定块和右固定块通过螺丝固定在所述定位孔上。

进一步地，所述左固定块和/或右固定块上设有一个以上滑槽。

进一步地，所述滑槽的宽度为两个定位孔的宽度。

综上所述，本装置通过在底座上设有一基准杆，基准杆的一侧设有用于夹住电池的定位结构，基准杆的另一侧设有一测量装置，检测时，将一标准块放置在定位结构夹住，其电池接触片抵触探针，此时将测量装置的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构夹住，其电池接触片抵触探针，此时可测量该待电池的下陷深度，将不符合要求的电池列为次品，该结构能有效检测出电池接触片的下陷情况，检测出次品。

附图说明

图1为本实用新型电池接触片下陷检测装置的立体结构示意图；

图2为图1的俯视图；

图3为图1的侧视图；

附图标记说明如下：

10、底座，11、基准杆，12、凹槽，13、定位孔，20、定位结构，21、左固定块，22、右固定块，23、滑槽，30、测量装置，31、探针，40、调节装置，41、升降块，42、导柱，43、弹簧，44、调节螺丝。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。

请参阅图1，本实用新型公开了一种电池接触片下陷检测装置，包括底座10，所述底座10上设有一基准杆11。该基准杆11为一长方体直杆，基准杆11上设有一凹槽12。

所述基准杆11的一侧设有用于夹住电池的定位结构20，所述基准杆11的另一侧设有一测量装置30。所述测量装置30包括一探针31，本实施例中，测量装置30可以为百分表，该探针31为端部为圆锥体的柱杆，用于抵触电池接触片(即金砖)。所述探针31穿设于所述凹槽12内。测量时，首先将一块标准块(即电池接触片的下陷深度符合规格要求的电池)放置在定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时将测量装置30的读数清零，以此作为基准。然后将待检测的电池放入定位结构20夹住，其电池接触片抵触探针31，此时可测量该待检测的电池的下陷深度，测量完成，将不符合要求的电池列为次品。

所述基准杆11与测量装置30之间设有一用于调节探针31高度的调节装置40。该调节装置40包括一升降块41及两条平行的导柱42，所述导柱42穿过升降块41的两端，所述升降块41上设有一穿孔，所述探针31穿过穿孔。通过调节升降块41在导柱42的位置，即可调节探针31的高度。

本实施例中，所述升降块41上设有一用于调节升降块41至底座10之间的距离的调节螺丝44，导柱42于升降块41的下面设有弹簧43。通过调节螺丝44调节升降块41在导柱42的位置，即调节了探针31的高度，弹簧43可使升降块41复位时提供力的作用，结构简单，操作方便，有效调节探针31的高度，能适配各种规格的电池。