[实用新型]一种在线式液晶玻璃基板测厚系统有效
申请号: | 201320679666.5 | 申请日: | 2013-10-31 |
公开(公告)号: | CN203534564U | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 孙建林 | 申请(专利权)人: | 东旭集团有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123 | 代理人: | 王苑祥 |
地址: | 050000 河北省石*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 在线 液晶 玻璃 基板测厚 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于液晶玻璃基板在线厚度测量技术领域,具体的说是一种在线式液晶玻璃基板测厚系统。
背景技术
目前,国内液晶玻璃的厚度测量多采用离线式测量。这种离线测量好多还是半自动的,需要投入较多人力,精度不高,效率低下,影响了生产节拍,造成工艺改进的滞后,从而影响到企业的经济效益。有的厂家虽然采用了在线式的测量方法,但其测量方式多采用非接触的测量方式,主要为激光、超声波和射线。这几种方法资金投入较大,且其精度对玻璃传输方式、周边环境及平稳状态要求苛刻,在线式测量精度不高,且以上测量多采用软件定时方式对测厚传感器采样间隔进行设置,由于目前常规玻璃传送装置速度不稳定,对测厚传感器采样点在液晶玻璃基板上的位置不能精确感知,难以实现测厚传感器在液晶玻璃基板上的定距离厚度采样测量。
发明内容
本实用新型为了解决上述问题,设计了一种在线式液晶玻璃基板测厚系统,本系统结构简单、制造容易、成本低、易推广,并且能够精确得知测厚传感器采样点在液晶玻璃基板上的位置,实现了测厚传感器在液晶玻璃基板上的定距离厚度采样测量。
本实用新型采用的技术方案是:一种在线式液晶玻璃基板测厚系统,系统结构中包括设置于玻璃基板传送装置上的到位传感器、安装于测厚工作台上的测厚传感器、及借助串行通信模块与测厚传感器实现信息交互的远程上位机,关键是:系统结构中增设对玻璃基板测厚采样点进行定距离触发控制的自触发装置,所述自触发装置中包括借助耦合器与玻璃基板传送装置连接的增量式光电编码器、脉冲信号转换器及计数器,增量式光电编码器的触发输出端通过脉冲信号转换器与计数器相连,计数器的信号输出端与串行通信模块连接。
本实用新型的有益效果是:1、通过自触发装置实现了对液晶玻璃基板厚度采样点的定距离触发控制,采样点间距通过计数器设定,直接由玻璃传送带速度控制,解决了传统计算机软件控制采样间距而导致的由于传送带速度不均匀造成采样间距不均匀的缺点;2、计算得到测厚传感器采样点在玻璃基板上的位置就可以用以反馈给玻璃生产工艺中的前段工艺,以便于进行设备维护和工艺改进;3、本系统硬件设备简单,测量精度高,设备投资少,自动化水平高,实现了液晶玻璃基板的在线式自触发测量,具有广阔的市场应用前景。
附图说明
图1是本系统结构框图。
附图中,1代表上位机,2代表增量式光电编码器,3代表脉冲信号转换器,4代表计数器,5代表串行通信模块,6代表测厚传感器,6-1代表主测厚传感器,6-2代表副测厚传感器,7-1代表传感器放大器主模块,7-2代表传感器放大器扩展模块。
具体实施方式
一种在线式液晶玻璃基板测厚系统,系统结构中包括设置于玻璃基板传送装置上的到位传感器、安装于测厚工作台上的测厚传感器6、及借助串行通信模块5与测厚传感器6实现信息交互的远程上位机1,重要的是:系统结构中增设对玻璃基板测厚采样点进行定距离触发控制的自触发装置,所述自触发装置中包括借助耦合器与玻璃基板传送装置连接的增量式光电编码器2、脉冲信号转换器3及计数器4,增量式光电编码器2的触发输出端通过脉冲信号转换器3与计数器4相连,计数器4的信号输出端与串行通信模块5连接。
所述的系统中还包括传感器放大器,测厚传感器7的信号输出端与传感器放大器的信号输入端相连,传感器放大器的信号输出端与串行通信模块5连接。
所述的测厚传感器6是接触式测厚传感器,测厚传感器6包括垂直于玻璃基板传送方向径向设置于玻璃基板传送装置两侧的主测厚传感器6-1和副测厚传感器6-2,配套地,传感器放大器包括传感器放大器主模块7-1及与传感器放大器主模块7-1相连的传感器放大器扩展模块7-2,主测厚传感器6-1和副测厚传感器6-2均通过信号连接线缆分别与传感器放大器主模块7-1与传感器放大器扩展模块7-2相连接。这样,每一次测厚数据均采用两个测厚传感器采集的厚度值求平均的方式确定,可以进一步提高测厚精度,相应地由于传感器放大器和测厚传感器为配套设备,故传感器放大器也为两个。
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