[实用新型]一种玻璃片下垂度自动测量仪有效

专利信息
申请号: 201320679286.1 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN203534535U 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 舒凤金;祁麟;安利营;张广涛;李俊锋;周波;闫冬成;王丽红 申请(专利权)人: 东旭集团有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123 代理人: 王苑祥
地址: 050000 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 玻璃片 下垂 自动 测量仪
【说明书】:

技术领域

    本实用新型属于光电玻璃生产领域,涉及薄以及超薄玻璃片产品技术指标测量设备,具体地说是一种玻璃片下垂度自动测量仪。

背景技术

对于薄以及超薄玻璃片,特别是用于光电领域内的产品,对其物理性能指标分布有极其严格的一致性要求。任何力学指标缺陷反映在光学指标上都可能是毁灭性的后果。下垂度作为光电玻璃片力学性能均匀性质量考核的重要指标,在应用、生产中过程中有着重要的参考价值。目前玻璃片下垂度测量的手段中,主要还是采用纯手动方式设定测量的工况,即依赖手动、机械方式调整支撑板间距、手动开启升降装置、测量各点的下垂度。由于玻璃下垂量在给定时间段内会随着操作时间的增加而不断增大,手动测量各点必然存在时间误差,即完成测量各点的时间差很难以实现精确控制,从而影响产品下垂度质量的准确评估。另外,随着高清晰影像逐步升级,检测的条件设定越来越多,调整操作精度及测量精度要求也越来越高,目前的测量工装和测量方法已经远远不能适应产品升级换代的要求。

因此对于玻璃片下垂度测量,迫切需要一种能缩短各点测量时间差,测量更为准确的自动测量仪。

发明内容

本实用新型为了提高玻璃片下垂度测量的精度,设计了一种玻璃片下垂度自动测量仪,采用管理测算电路自动控制玻璃片的升降、支撑块间距的调节以及各点下垂度的测量,有效消除或减少了人为测量所产生的误差,提高了测量效率。

本实用新型的技术方案是:一种玻璃片下垂度自动测量仪,仪器结构中包括检测平台和均布在平台上的测距仪、管理测算电路,关键在于:检测平台的结构中包括限位在检测平台上的支撑间距调整机构、测距探头,垂直升降的玻璃片承载台设置在支撑间距调整机构之间。

本实用新型的有益效果是:1、激光测距传感器位置可调,确保其适用于不同规格尺寸玻璃的下垂度测量;2、可同时测量各点的下垂度,不存在时间差,消除了玻璃下垂度在一定时间段内的变化对测量值的影响;3、玻璃支撑间距可以通过管理测算电路控制电机自动调整,同片玻璃间距调整切换方便快捷,实现了快速、连续、无间歇测量;4、通过电磁阀控制升降装置的升降,从而实现玻璃片升降自动控制,节省人力的同时提高测量效率;5、采用三通电磁驱动节流阀与气囊结合,以实现玻璃片缓慢下降,减少玻璃片与支撑板接触时的冲击,避免冲击震动造成测量误差。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图;

图2是测距探头的结构示意图;

图3是螺母丝杠传动副的结构示意图;

附图中,1是玻璃片承载台,1-1是支撑气囊,2是测距探头,2-1是十字滑台,2-2是激光测距传感器,3-1是支撑板,3-2是滑动支座,3-3是螺母丝杠传动副, 3-3-1是左旋丝杠段,3-3-2右旋丝杠段,3-3-3是联轴节, 3-3-4是电机,3-3-5是拖动板,4是台面,4-1是滑轨。

具体实施方式

一种玻璃片下垂度自动测量仪,仪器结构中包括检测平台和均布在平台上的测距仪、管理测算电路,关键在于:检测平台的结构中包括限位在检测平台上的支撑间距调整机构、测距探头2,垂直升降的玻璃片承载台1设置在支撑间距调整机构之间。管理测算电路可以根据需要调整支撑装置的间距,控制玻璃片承载台1的升降,记录和分析测距探头2传回的数据。

在玻璃片承载台1下设置支撑气囊1-1,支撑气囊1-1设置有充、放气三通电磁驱动节流阀,三通电磁驱动节流阀的充气口连通气泵、受控端与管理测算电路连接。以实现自动控制玻璃片缓慢下降,减少玻璃片与支撑板接触时的冲击,避免冲击震动造成测量误差。

所述的测距探头2借助十字滑台2-1定位在检测平台的台面4上,测距探头2采用带有发射和接受装置的激光测距传感器2-2,激光测距传感器2-2的电路与管理测算电路连接。激光测距传感器2-2可沿十字滑台2-1纵、横向滑动。根据不同规格玻璃片下垂度测量点位置的变化,可以在X、Y方向上进行测量位置的调整,以便适用于不同规格尺寸玻璃的下垂度测量。

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