[实用新型]一种可控硅简易检测板

说明书

技术领域

本申请涉及可控硅检测技术领域，特别涉及一种可控硅简易检测板。

背景技术

在电子、电器设备的生产和维修过程中，进程需要使用到可控硅这一电子元件，自然也经常会碰到需检测可控硅（晶闸管）性能好坏的问题。现有技术中，检测可控硅通常是采用“晶体管特性图示仪”来检测可控硅。但“图示仪”价格昂贵，且体积笨重，不便携带，使用不便，一般生产和维修场合无此设备。

众所周知，可控硅分为单向可控硅和双向可控硅，单向可控硅具有单相导电性，但它与普通二极管是不一样的是在它的阳极（A）和阴极（K）之间加上正向电压后它并不自动导通，要使单硅导通，必须在它的控制极（G）加上一个正向触发脉冲。因此，在没有“晶体管特性图示仪”的条件下对于单向可控硅的性能检测至少必须包括以下几个步骤：（1），在单向可控硅的阳极（A）和阴极（K）之间施加正向电压，控制极不加触发脉冲，判断是否截止；（2）控制极加触发脉冲，检测其是否导通；（3）触发脉冲消失，检测是否继续导通；（4）施加反向电压，判断是否截止。一个单向可控硅必须经过以上四个步骤的检测才能判断其性能的好坏。对于双向可控硅，其基本性能与单向可控硅类型，只不过其具有双向导通的特性，即没有正负极之分，因此其检测步骤除了以上的四个步骤外还需要重复步骤（2）至（4）一遍。可见，对于可控硅的检测过程步骤繁多。

而在现有技术中，如果没有“晶体管特性图示仪”，检测者智只能手动检测，其必须将待检测的可控硅连接到电源两端，用测试表检测是否导通，然后再用电源施加一个脉冲，然后再检测是否导通，之后还需要将待测可控硅与电源反接后再检测等等步骤，整个过程极为繁琐，检测效率低下，检测过程容易出错。

发明内容

本申请的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种结构简单，能在快速检测出单相可控硅或双向可控硅性能是否正常，便于生产和维修过程使用的可控硅简易检测板。

本申请的目的通过以下技术方案实现：

提供了一种可控硅简易检测板，包括检测模块和通路控制模块，所述检测模块包括表头M和与表头串联的电源E1，所述通路控制模块包括翻转电路、用于连接待测可控硅正极的A端子、用于连接待测可控硅负极的B端子和用于连接待测可控硅控制极的C端子，所述翻转电路包括常正输出端和常负输出端，所述翻转电路可调换所述常正输出端和常负输出端的极性，所述B端子经过一个开关支路连接至翻转电路的常正输出端，所述检测模块的两个输出端对应与翻转电路的两个输入端连接，所述翻转电路的常正输出端和A端子连接，所述翻转电路的常负输出端和C端子连接。

其中，所述翻转电路包括负电输入端和正电输入端，所述负电输入端和常正输出端之间串接有双控开关K2，所述正电输入端和常负输出端之间串接有双控开关K3，所述负电输入端与常负输出端连接，所述正电输入端与第一输出端连接。

其中，所述通路控制模块还包括电源补充模块，所述电源补充模块可被短路的辅助电源E2，辅助电源E2受控与电源E1串联。

其中，所述翻转电路的一个输入端设置有D接线端子，另一个输入端设置有E接线端子，通过D接线端子和E接线端子使得所述检测模块和通路控制模块可分离式连接。

其中，所述开关支路包括串接于A端子和B端子之间的按钮开关K1。

其中，所述检测模块为欧姆表。

本申请的有益效果：本发明提供一种可控硅简易检测板，检测时将待测可控硅的阳极、控制极和阴极依次插设于本检测板上的A端子、B端子和C端子，由于在翻转电路无翻转控制的情况下翻转电路常正输出端输出高电平，常负输出端输出低电平，因此能实现在待测可控硅两端增加电压的目的，同时通过控制开关支路的通/断，能够控制待测可控硅控制极与高电平之间的通/断，从而实现方便的对可控硅控制极施加正向脉冲的目的；进一步，通过控制翻转电路实现电极翻转，即可实现在可控硅阳极和阴极之间施加反向电压的目的，可见，通过本检测板能够方便的对可控硅进行检测，检测过程变得极为简洁可靠。此外，对于双向可控硅则无需考虑正负极问题，而本检测板同样能够提供脉冲施加、电极翻转等功能，同样可以方便的进行检测。

附图说明

利用附图对本申请作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本申请的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图1为本申请一种可控硅简易检测板的电路结构示意图。

具体实施方式

结合以下实施例对本申请作进一步描述。