[实用新型]一种可进行水平校准的电子分析天平

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种天平，尤其是一种可进行水平校准的电子分析天平。 

背景技术

电子分析天平作为精密测量工具已在工业、医疗、化工等领域得到广泛的运用。由于电子分析天平的待测对象对测量精度具有极高要求，测量过程中的丝毫误差均有可能影响测量结果。电子分析天平在使用中，时常会由于环境原因或人为因素导致其难以保持水平状态，从而影响测量结果。 

实用新型内容

本发明要解决的技术问题是提供一种电子分析天平，其可显示电子分析天平当前是否处于水平位置，并可对其进行调制。 

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种可进行水平校准的电子分析天平，包括测量基座与设置在测量基座上的测量室，所述测量基座包含控制面板、显示屏，以及设立在测量基座上表面的测量平台；所述测量室包括玻璃面板与前开门；所述测量基座下方设有至少3根相互间均独立的支架，所述支架均可进行伸缩；所述测量基座上安装有水准器，所述水准器内部装填有酒精，水准器内包含有一气泡；所述水准器表面标有分标线。 

作为本实用新型的一种改进，所述测量基座下方设有4根相互间均独立的支架，其可以确保电子分析天平的稳定性。 

作为本实用新型的一种改进，所述支架分为上支架与下支架，所述上下支架之间通过螺纹连接，其可以方便的对支架的高度进行调整。 

作为本实用新型的另一种改进，所述四根支架内部均设有液压减震装置，其可以避免电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动，从而导致测量数据不精确的现象。 

作为本实用新型的另一种改进，所述水准器采用管水准器，其精度高于同类别的水准器，可提高电子分析天平的水平位置精确度。 

使用时，使用者可根据水准器判定电子分析天平是否处于水平状态，若其不水平，则可通过调整支架长度使电子分析天平处于水平状态。 

采用上述技术方案的电子分析天平，其可使得每次测量时的天平均处于水平状态，从而减少测量误差，到达电子分析天平精确测量的目的。 

附图说明

图1为本实用新型的主视图； 

图2为本实用新型中支架内部示意图；

附图标记说明：

1—测量基座、2—测量室、3—测量平台、4—支架、5—液压减震装置、6—水准器。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本实用新型，应理解下述具体实施方式仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。 

如图1所示的一种可进行水平校准的电子分析天平，包括测量基座1与设置在测量基座上的测量室2，所述测量基座包含控制面板、显示屏，以及设立在测量基座上表面的测量平台3；所述测量室包括玻璃面板与前开门；所述测量基座下方设有至少3根相互间均独立的支架4，所述支架4均可进行伸缩；所述测量基座1上安装有水准器6，所述水准器6内部装填有酒精，水准器内包含有一气泡；所述水准器表面标有分标线。 

作为本实用新型的一种改进，所述测量基座1下方设有4根相互间均独立的支架4，其可以确保电子分析天平的稳定性。 

作为本实用新型的一种改进，所述支架4分为上支架与下支架，所述上下支架之间通过螺纹连接，其可以方便的对支架的高度进行调整。 

作为本实用新型的另一种改进，所述四根支架4内部均设有液压减震装置5，其可以避免电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动，从而导致测量数据不精确的现象。 

作为本实用新型的另一种改进，所述水准器6采用管水准器，其精度高于同类别的水准器，可提高电子分析天平的水平位置精确度。 

使用时，使用者可根据水准器判定电子分析天平是否处于水平状态，若其不水平，则可通过调整支架长度使电子分析天平处于水平状态。 

采用上述技术方案的电子分析天平，其可使得每次测量时的天平均处于水平状态，从而减少测量误差，到达电子分析天平精确测量的目的。 

本实用新型方案所公开的技术手段不仅限于上述实施方式所公开的技术手段，还包括由以上技术特征任意组合所组成的技术方案。