[实用新型]一种用于温升测试的测试盒有效

专利信息
申请号: 201320586023.6 申请日: 2013-09-14
公开(公告)号: CN203433005U 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 耿海行;赵洪亮;王凤兵 申请(专利权)人: 深圳市世标检测有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518055 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种测试盒装置,尤其涉及一种专用于UL1993相关样品正常温升、正常半波及斩波测试所必需用到的测试盒。 

背景技术

随着LED灯具的发展,新开发产品种类及应用范围发展迅速,产品正常使用及非正常条件下使用所产生的温升,不仅对产品的稳定性及寿命有影响,更对产品的安全要求产生较大的影响。为最大限度模拟出正常及可能的异常使用中可能出现的最高温升数据,全面评估产品的安全性能,以往灯具及镇流器的测试环境已经不能满足。 

实用新型内容

本实用新型提供了一种用于温升测试的测试盒,旨在提供一种最大限度的模拟符合UL1993相关样品正常温升、正常半波及斩波测试环境的装置。 

本实用新型的技术方案是这样的: 

一种用于温升测试的测试盒,包括:导热缓慢的封闭的外箱、套设在所述外箱内能快速导热的封闭的内筒和设置在所述内筒中的样品。 

进一步地:所述封闭的外箱为中空的长方体或者正方体外壳;所述内筒为中空的圆柱形。 

进一步地:所述内筒竖直设置在所述外箱内;所述内筒放置在所述外箱的底板偏离其中心位置处。 

进一步地:所述内筒的顶部到所述外箱的顶板间隔的第一距离和外侧壁到所述外箱的三个侧板间隔的最近的第二距离相等;所述样品吊挂在所述内筒的顶部。 

进一步地:所述第一距离和第二距离为13毫米。 

进一步地:所述内筒的外侧壁到所述外箱的第四侧板内侧间隔的最近的第三距离为76毫米。 

进一步地:所述样品至少为灯具或者镇流器中的一种。 

进一步地:所述外箱为木箱,所述内筒为金属内筒。 

进一步地:所述内筒的内直径为152毫米,深216毫米。 

进一步地:所述内筒的内直径为203毫米,深280毫米。 

本实用新型的有益效果:将样品放置在导热能力强的内筒中,同时在内筒的外部非接触的套设在导热缓慢的外箱中,模拟出了样品最不利环境影响因素,使该测试盒满足了结合标准具体要求及测试现场实际条件。样品产生的热量,集中于内筒内,同时又与外箱内部形成良好换热。外箱与外界形成惰性换热。因此,该结构的设计保证温升的足够落差的同时又确保测试数据的采集平稳及准确性。 

附图说明

图1为本实用新型的俯视图; 

图2为图1中沿A-A方向剖视图。 

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。 

参考图1,本实用新型中所说的用于温升的测试盒包括:导热缓慢的封闭的外箱1、套设在外箱1内能快速导热的封闭的中空的内筒2和设置在所述内筒中的样品3。将内筒2套设在在样品外侧,其作用在于将样品3的热量尽快通过内筒2散发出去;在内筒2外非接触的套设外箱1,使内筒2和外箱1之间形成隔热层。在样品3的外侧依次设置内筒2和外箱1的优点:样品3产生的热量,集中于内筒2内,同时又与外箱1内部形成良好换热。外箱1与外界 形成惰性换热。因此,该结构的设计保证温升的足够落差的同时又确保测试数据的采集平稳及准确性。 

具体地,参考图1和图2,为了使该测试盒结构简单,外箱1的形状为封闭的长方体或者正方体,由六块木质面板围合而成。这是因为木头做成的外箱1散热缓慢。当然,外箱1也可以用其他导热缓慢的材料构成,如塑胶、橡胶或层板等。内筒2由封闭的金属圆筒构成,这是因为金属的传热快,满足样品3的测试环境要求。需要说明的是,外箱1也可以是其它形状,如圆筒形、圆台形等,只要满足是封闭的外壳就可以;同样的,内筒2也可以是其他形状封闭的金属外壳,如矩形、菱形、圆台型等。 

参见图1,进一步地,内筒2竖直放置在外箱1内。但是,内筒2的底部并不是放置在外箱1的底板16的中心位置,而是偏离其中心位置一定的距离。具体地,内筒2的上端部到外箱1的顶板15间隔的第一距离和内筒2的外侧壁到外箱1的三个侧板11、12、13的最近的第二距离相等。由于内筒2为圆筒状,其侧壁到三个侧板11、12、13的第二距离为内筒2的外圆上最近的点到它们的距离。 

具体地,第一距离和第二距离为13毫米。内筒2到外箱1的第四侧板14的最近的第三距离为76毫米。 

具体的,样品3可以为灯具、镇流器或者其他灯具产品,也就是说,该测试盒可以对多种电子产品进行温度变化测量。 

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