[实用新型]一种寿命试验装置有效
申请号: | 201320560847.6 | 申请日: | 2013-09-10 |
公开(公告)号: | CN203432745U | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 彭永红;刘志浩;赖丽娟;邱雄胜;张保全;刘其剑 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G01L27/00 | 分类号: | G01L27/00;G01M13/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏晓波 |
地址: | 519070*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 寿命 试验装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种实验装置,更具体地说,涉及一种寿命试验装置。
背景技术
压力传感器能感受压力并转换成可用输出信号的传感器。压力开关采用高精度、高稳定性能的压力传感器和变送电路,再经专用CPU模块化信号处理技术,实现对介质压力信号的检测、显示、报警和控制信号输出。
为了保证压力传感器和压力开关的正常使用,压力传感器以及压力开关作为被检工件在出厂之前需要抽取部分产品进行寿命试验。目前,对明确要求必须做该试验的被检工件,只能使用氮气通过规定频率控制电磁阀对被检工件进行寿命试验。采用该方式不仅耗费大量氮气,而且存在严重的安全隐患。
另外,压力传感器要求试验次数为200万次,压力开关要求5万次,采用上述方式进行寿命测试时一次只能对一个压力传感器或压力开关进行试验,需要花费大量的时间来做该实验,且无法连续进行,效率非常低,实际生产中,试验常常无法完成。
因此,如何降低被检工件寿命试验过程中的安全隐患,成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提供一种寿命试验装置,以实现降低被检工件寿命试验过程中的安全隐患的目的。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种寿命试验装置,该装置包括密闭造压系统和检测器,其中,所述密闭造压系统包括:进气口与气路连接的气液增压器;与所述气液增压器的出液口连通的液压管;和设置在所述气路的电磁阀,当所述电磁阀处于第一工作位置时,所述气路与所述进气口连通,当所述电磁阀处于第二工作位置时,所述气路与所述进气口非导通;所述检测器上设置有用于安装被检工件的转换接头。
优选地,上述寿命试验装置中,所述气路上还设置有气压表。
优选地,上述寿命试验装置中,所述气路还设置有用于调节所述气路内气体压力大小的精密调节阀。
优选地,上述寿命试验装置中,所述液压管上还设置有液压表。
优选地,上述寿命试验装置中,所述检测器上的转换接头有多个,且所述检测器上还设置有防护罩。
优选地,上述寿命试验装置中,所述密闭造压系统和检测器至少4组。
优选地,上述寿命试验装置中,至少4组所述密闭造压系统和检测器中气路全部或部分共用一个气源。
优选地,上述寿命试验装置中,所述气源为储气罐。
优选地,上述寿命试验装置中,还包括控制系统,所述控制系统包括:
交互单元,用于接收用户的操作指令,包括循环模式和试验次数;
接收单元,用于接收被检工件的反馈信号;
控制单元,用于根据所述操作指令和所述反馈信号得到执行信号;和
发送单元,用于将所述执行信号发送至所述电磁阀,当所述执行信号为开启信号时,所述电磁阀处于第一工作位置,当所述执行信号为关闭信号时,所述电磁阀处于第二工作位置。
优选地,上述寿命试验装置中,所述装置还包括机架和触摸屏,所述密闭造压系统、所述控制系统和所述触摸屏设置在所述机架上,所述触摸屏用于向所述交互单元输入操作指令。
从上述技术方案中可以看出,本实用新型实施例中的寿命试验装置包括密闭造压系统和检测器,其中,所述密闭造压系统包括:进气口与气路连接的气液增压器;与所述气液增压器的出液口连通的液压管;和设置在所述气路的电磁阀,当所述电磁阀处于第一工作位置时,所述气路与所述进气口连通,当所述电磁阀处于第二工作位置时,所述气路与所述进气口非导通;所述检测器上设置有用于安装被检工件的转换接头。
当需要对被检工件进行寿命试验时,将被检工件安装在检测器上的转换接头上,将气路连接气源,开启电磁阀,使得电磁阀处于第一工作位置,所述气路与所述进气口连通,压缩空气进入气液增压器的气腔,推动其活塞杆向前运行,使整个液压管与检测器组成的密闭回路中的压力增加,当压力达到被检工件所需的开启压力时,被检工件开启。然后切换电磁阀使得所述电磁阀处于第二工作位置,所述气路与所述进气口非导通,气液增压器活塞杆退回复位,整个液压密闭系统内压力减小,回到初始压力。从而使被检工件闭合,完成一次开启和关闭的动作。由于该装置中采用气液增压器,将气源与测试被检工件隔离开,消除人工用氮气做寿命试验的安全隐患。
另外,检测器上通过设置多个转换接头能够一次实现对多个被检工件的寿命测试,从而提高了测试的效率。
附图说明
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