[实用新型]CCD对位测试机电测系统同动装置

说明书

技术领域

本实用新型属于CCD对位测试机领域，特别是涉及一种电测系统结合于Z轴部有线同动装置。

背景技术

按，于已知CCD对位测试机其电测系统(或称电测箱)，以固定式安装于机台基座，与测试机构包括上Z轴部及下Z轴部的Z轴部间，以大量讯号线长距离分别对应连接传输；但是，依长期使用经验发现，所述讯号线一端固定连接于电测系统，另一端则随Z轴部作动，长期受力累积后容易发生讯号线遭扯落、段裂、松脱或接触不良等故障；另，此种连接方式须使用较长的讯号线，造成线材使用量大、且占用机台大量空间且安装或查线维修均困难；更进一步地，长距离连接的讯号线于连接至Z轴部后，还需依据设计再分别连接至θ、X、Y、Z各轴平台处，运转时更容易造成扭线等困扰；

另，目前已有美、欧厂商为解决上述问题，将电测系统中的电路板以金手指插卡方式直接结合于测试机构Z轴部；但是，此种方式技术难度高，制造成本高，显然不是理想的解决方案。

有鉴于此，本实用新型发明人特以从事相关产品所累积的丰富经验，深入分析研究，开发出本实用新型的「CCD对位测试机电测系统同动装置」，且于实地试用验证后发现，其确可有效达到既定的功效目标，诚为一理想的发明创造。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决已知CCD对位测试机其电测系统，以固定式安装于机台基座，与测试机构之Z轴部间以大量讯号线长距离分别对应连接传输，讯号线一端固定连接于电测系统，另一端随Z轴部作动，长期受力累积后容易发生讯号线遭扯落、段裂、松脱或接触不良等故障；另，此种连接方式需使用较长的讯号线，造成线材使用量大、且占用机台大量空间且安装或查线维修均困难的问题；

为解决上述问题，本实用新型采用以下技术方案：

CCD对位测试机电测系统同动装置，包括：

一电测系统；

一测试机构的Z轴部；

所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动，并以讯号线与各轴连接同动。

进一步地，

所述电测系统包括上Z轴电测系统及下Z轴电测系统；

所述测试机构的Z轴部，包括上Z轴部及下Z轴部；

所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动，包括：上Z轴电测系统对应结合于上Z轴部同动，下Z轴电测系统对应结合于下Z轴部同动。

所述各轴包括θ、X、Y、Z任一轴。

本实用新型的优点在于，

本实用新型将电测系统与测试机构的Z轴部有线结合同动，其所使用的讯号线短距离与各轴连接，不会有一端固定另一端受力从动的拉扯问题，完全解决已知结构讯号线遭拉断、脱落、接触不良的问题；同时线材大幅缩减长度，传输速度变快，配线安装、维修均相当容易，使得成本降低。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构平面示意图。

图2是本实用新型实施例的结构立体示意图。

具体实施方式

以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的描述。

如图1所示，本实用新型公开的CCD对位测试机电测系统同动装置，包括：一电测系统1，包括上Z轴电测系统11、下Z轴电测系统12；一测试机构的Z轴部2，包括上Z轴部21及下Z轴部22；

所述电测系统1对应结合于测试机构2的Z轴部有线同动，包括：上Z轴电测系统11对应结合于上Z轴部21同动，而下Z轴电测系统12对应结合于下Z轴部22同动；

又，电测系统1对应结合于测试机构的Z轴部2同动后，并以讯号线13与各轴连接同动；

所述各轴包括θ、X、Y、Z轴任一轴；

图2所示为本实用新型实施例的结构立体示意图；

是以，由于本实用新型中令电测系统1与测试机构的Z轴部2结合同动，其所使用的讯号线13仅短距离与各轴连接，因此不会有一端固定另多受力从动的拉扯问题，因此，可完全解决讯号线遭拉断、脱落、接触不良的问题；同时线材大幅缩减长度，传输速度变快，配线安装、维修均相当容易，使得成本降低。

而，本实用新型同样可以达成如前述已知金手指插卡连接的效果，然而其制造难度与成本却相对降低，达到较佳的产业利用效果。

以上所述，皆仅为本实用新型实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，即凡依本实用新型权利要求范围及说明书内容所作的简单的等效变化、修饰与置换，皆应属于本实用新型的保护范围之内。