[实用新型]一种近接传感器检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种近接传感器检测装置。

背景技术

目前，该行业其它公司对近接传感器进行检测，大多采用对近接传感器的进行开短路检测，或者引脚阻抗测定，这种检测方法最多只能判断进阶传感器有无贴装，但对近接传感器本身不良以及引脚虚焊、假焊等贴装过程中的不良很难检测出来，存在漏测、假测现象，很容易把不良品流出，造成经济损失。

实用新型内容

本实用新型目的是：提供一种近接传感器检测装置，该检测装置不仅可以对近接传感器进行功能性检测，而且检测精确度高、稳定性好，从而提高产品的质量。

本实用新型的技术方案是：一种近接传感器检测装置，其特征在于，包括上、下夹板，检测基板以及反射机构，所述近接传感器放置于所述下夹板上且与所述检测基板电连接，所述上夹板上设有透光孔，该透光孔与所述近接传感器位置对应，所述反射机构通过驱动机构沿透光孔方向做往复运动。

优选地，所述检测基板主要由电源、MCU、I/O接口组成。

优选地，还包括导销，所述导销设于所述下夹板上，同时所述上夹板上设有与所述导销对应的导销孔。

优选地，所述近接传感器通过探针与所述检测基板连接。

优选地，还包括电磁阀，所述电磁阀用于连接所述检测基板和所述驱动机构。

优选地，所述驱动机构为驱动气缸。

优选地，所述反射机构为反射板。

本实用新型具体操作步骤如下，首先通过上、下夹板以及导销固定近接传感器，检测基板控制电磁阀OFF并检测近接传感器有无遮挡物；如没有遮挡物，检测基板控制电磁阀ON并控制电磁阀使驱动机构带动反射机构沿透光孔方向往复运动，从而使反射机构可以遮挡近接传感器上方的透光孔；当没有反射机构遮挡时，近接传感器红外信号发射端发出的光波因没有物体遮挡，而不能反射到近接传感器的红外接收端，从而判断该产品的功能性检测不合格；如果驱动机构带动反射机构遮挡透光孔，近接传感器红外发射端发出的光波被反射回去，是近接传感器能够接收到自身发出的反射光波，则判断该产品的功能性检测合格。

本实用新型的优点是：不仅可以对近接传感器进行功能性检测，而且检测精确度高、稳定性好，从而提高产品的质量。

附图说明

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型流程图；

其中：1上夹板，2下夹板，3检测基板，4反射机构，5驱动机构，6探针，7导销，8电磁阀，9透光孔，10近接传感器。

具体实施方式

实施例：参照图1、2所示，一种近接传感器检测装置，包括上、下夹板1、2，检测基板3，反射机构4，导销7以及电磁阀8，近接传感器10放置于下夹板2上且通过探针6与检测基板3电连接，上夹板1上设有透光孔9，该透光孔9与近接传感器10位置对应，反射机构4通过驱动机构5沿透光孔9方向做往复运动，导销7设于下夹板2上，同时上夹板1上设有与导销7对应的导销孔，电磁阀8用于连接检测基板3和驱动机构5，该驱动机构5为驱动气缸，该反射机构4为反射板。

本实用新型的检测基板3主要由电源、MCU、I/O接口组成，电源主要用于给MCU以及近接传感器提供工作电压，MCU是核心的检测及控制部分，I/O接口是MCU的输入和输出信号的接口。

本实用新型具体操作步骤如下，首先通过上、下夹板1、2以及导销7固定近接传感器10，检测基板3控制电磁阀8OFF并检测近接传感器10有无遮挡物；如没有遮挡物，检测基板3控制电磁阀8ON并控制电磁阀8使驱动机构5带动反射机构4沿透光孔9方向往复运动，从而使反射机构4可以遮挡近接传感器10上方的透光孔9；当没有反射机构4遮挡时，近接传感器10红外信号发射端发出的光波因没有物体遮挡，而不能反射到近接传感器10的红外接收端，从而判断该产品的功能性检测不合格；如果驱动机构5带动反射机构4遮挡透光孔9，近接传感器10红外发射端发出的光波被反射回去，是近接传感器10能够接收到自身发出的反射光波，则判断该产品的功能性检测合格。

如果在检测过程当中如果检测基板3检测不到近接传感器10有反射板遮挡的信号时，可以降低反射板的高度。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型主要技术方案的精神实质所做的修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。