[实用新型]多功能晶体管测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试装置，尤其是一种多功能晶体管测试夹具。

背景技术

晶体管是一种固体半导体器件，可以用于检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制和许多其它功能。晶体管在生产制造过程中，需要对晶体管进行工程测试收集数据，例如晶粒测试，封装后的成品的测试。现有技术中，通常在测试机上进行检测，采用三种不同的测试机，每种测试机的接口都不同，则每种测试机上需要有各自相配合使用的测试夹具，在实际使用过程中，测试不同的项目时，则需要更换不同的测试机，其切换使用时较浪费时间，降低了生产效率，操作工人操作麻烦，成本高。

实用新型内容

本申请人针对上述现有生产技术中需要在不同的测试机上测试晶体管的麻烦操作的缺点，提供一种结构合理的多功能晶体管测试夹具，其在同一台测试机上即可测试不同的项目，从而提高了测试夹具的实用性，节约操作工人的操作时间，提高生产效率，降低成本。 

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种多功能晶体管测试夹具，包括夹具体，所述夹具体中部设置有铜片，所述铜片上放置所需检测的晶片，所述铜片上设置有测试晶粒的探针；所述夹具体上还设置一对夹片，第一夹片与第二夹片位于同一水平位置；位于夹具体的下部分别设置有与测试机相连的第一连接接口、第二连接接口、第三连接接口和第四连接接口，所述第一连接接口与第一夹片相连，所述第二连接接口与铜片相连，所述第三连接接口与探针相连，所述第四连接接口与第二夹片相连。

作为上述技术方案的进一步改进：

所述夹具体通过紧固件安装于测试机上；

所述第一连接接口、第二连接接口、第三连接接口和第四连接接口分别通过连接导线与测试机相连。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型结构合理，操作简便，将本实用新型安装于测试机上，可以通过夹片测试封装好的晶体管，也可以通过铜片测试封装前的晶片、晶粒，其使用灵活，可以在同一台测试机上，采用同一个夹具来测试不同的项目，实用性好，提高了生产效率，成本低。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

其中：1、夹具体；2、第一夹片；3、第一连接接口；4、第二连接接口；5、探针；6、铜片；7、第三连接接口；8、第二夹片；9、第四连接接口。

具体实施方式

下面结合附图，说明本实用新型的具体实施方式。

如图1所示，本实施例的多功能晶体管测试夹具，包括夹具体1，夹具体1中部设置有铜片6，铜片6上放置所需检测的晶片，铜片6上设置有测试晶粒的探针5；夹具体1上还设置一对夹片，第一夹片2与第二夹片8位于同一水平位置；位于夹具体1的下部分别设置有与测试机相连的第一连接接口3、第二连接接口4、第三连接接口7和第四连接接口9，第一连接接口3与第一夹片2相连，第二连接接口4与铜片6相连，第三连接接口7与探针5相连，第四连接接口9与第二夹片8相连。

夹具体1通过紧固件安装于测试机上。

第一连接接口3、第二连接接口4、第三连接接口7和第四连接接口9分别通过连接导线与测试机相连。

实际使用过程中，当测试轴式产品（如封装好的晶体管）时，可以将所需测试的产品安装于第一夹片2与第二夹片8上，然后将第一连接接口3与第四连接接口9通过连接导线与测试机相连，即可读取测试机上的测试数据；当测试切割后的晶片（即封装前的晶体管），通过铜片6承载切割后的晶片，使其与探针5接触，并将第二连接接口4与第三连接接口7通过连接导线与测试机相连，即可读取测试机上的测试数据。其使用灵活，测试方便，成本低。

以上描述是对本实用新型的解释，不是对实用新型的限定，本实用新型所限定的范围参见权利要求，在本实用新型的保护范围之内，可以作任何形式的修改。