[实用新型]一种轴承外圈垂直差测量仪

说明书

技术领域                                            

本实用新型涉及轴承测量领域，特别涉及一种轴承外圈垂直差测量仪。

背景技术

随着科技的不断发展，对轴承加工的工艺要求越来越高，使得很多轴承外圈需要按工艺要求进行磨削加工，在磨削加工磨平面和磨外圆工序中，轴承外圈往往对其端面对外径垂直差有一定精度要求，但由于目前无测量仪器测量，磨削加工时，工艺安排又往往不够合理，因此该加工精度存在严重超差问题，甚至无法具体统计存在问题的工件个数，此外由于上工序质量不合格，因此会直接危害影响后续加工及成品质量，进而达不到用户的使用要求。

因此急需一种结构简单易于操作的轴承外圈垂直差测量仪，对轴承外圈垂直差进行相应的测量，以达到用户所要求轴承外圈垂直差，进而提高产品质量及市场竞争力。

实用新型内容

针对以上问题，本实用新型通过设计一种轴承外圈垂直差测量仪，可对轴承外圈垂直差进行相应的测量，从而可达到客户所需轴承外圈垂直差要求，进而可提高产品质量及市场竞争力，本实用新型提供一种轴承外圈垂直差测量仪，包括底座、支撑立柱、千分表、支架、表座、圆台、V型块和限位圈，所述底座上有支撑立柱和圆台，所述限位圈镶嵌在圆台上，所述圆台上安装有工件，所述限位圈在圆台与工件之间，所述限位圈上端面与工件底面端面相接触，所述支撑立柱上有V型块，所述V型块V型块槽口与工件外圆相接触，所述支撑立柱上有支架，所述支架上有表座，所述千分表通过支架和表座进行固定，所述千分表测头与工件相接触。

作为本实用新型的进一步改进，所述V型块尾端有开口槽，所述V型块开口槽卡在支撑立柱上，所述V型块通过开口槽沿支撑立柱上下活动，本专利V型块可沿支撑立柱上下活动，以达到对工件的不同定位效果。

作为本实用新型的进一步改进，所述支架与支撑立柱之间为可拆卸式，所述支架通过紧固件固定在支撑立柱上，本专利支架与支撑立柱之间为可拆卸式，通过调节支架位置进而可对千分表位置进行相应的调节。

本实用新型为一种轴承外圈垂直差测量仪，依靠圆台内限位圈上端面与工件底面相接触来限制工件在Z轴向铅垂方向的移动，依靠V型块V型块槽口与工件外圆相接触来限制工作在X轴向左方向和Y轴向前、后方向以及沿X、Y轴回转方向的移动，为了便于测量本实用新型保留工件在Z轴向上的移动，以及Z轴回转方向、X轴向右方向移动的自由度，使用者对轴承外圈垂直差进行相应的测量后，根据所得到的工件垂直差数据及客户需要，对工件进行验收，此外该数据也可对工艺评估、验收和改进提供必要的帮助，进而提高产品质量及市场竞争力。

附图说明

图1是本实用新型剖视图；

图2是本实用新型俯视图；

具体部件名称如下：

1、底座；     2、支撑立柱；      3、千分表；    3-1、测头；

4、支架；     5、表座；          6、工件；      7、圆台；        

8、V型块；   8-1、开口槽；      9、紧固件；     10、限位圈。

具体实施方式

以下结合附图和实施例对实用新型做详细的说明：

本实用新型通过设计一种轴承外圈垂直差测量仪，可对轴承外圈垂直差进行相应的测量，从而可达到客户所需轴承外圈垂直差要求，进而可提高产品质量及市场竞争力。

作为本实用新型一种具体实施例，本实用新型提供结构示意图如图1图2所示的一种轴承外圈垂直差测量仪，包括底座1、支撑立柱2、千分表3、支架4、表座5、圆台7、V型块8和限位圈10，所述底座1上有支撑立柱2和圆台7，所述限位圈10镶嵌在圆台7上，所述圆台7上安装有工件6，所述限位圈10在圆台7与工件6之间，所述限位圈10上端面与工件6底面端面相接触，依靠圆台7内限位圈10上端面与工件6底面相接触来限制工件在Z轴向铅垂方向的移动，所述支撑立柱2上有V型块8，所述V型块8V型块槽口与工件6外圆相接触，依靠V型块8V型块槽口与工件6外圆相接触来限制工作在X轴向左方向和Y轴向前、后方向以及沿X、Y轴回转方向的移动，所述支撑立柱2上有支架4，所述支架4上有表座5，所述千分表3通过支架4和表座5进行固定，所述千分表3测头3-1与工件6相接触。