[实用新型]多模终端综合测试仪的模式切换装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及TD-LTE与TD-SCDMA芯片终端测试领域，尤其是一种多模终端综合测试仪的模式切换装置。

背景技术

目前随着中国移动TD-LTE网络大规模的建设，以及TD-SCDMA商用化进程的不断推进，具有TD-LTE和TD-SCDMA多模芯片及终端的研发、生产及应用越来越受到各相关厂家的重视。在芯片、终端的研发和生产过程中，测试的精确度及测试的速度是衡量测试仪器非常重要的指标，由于目前终端的多模性，因此对测试的速度和准确性提出了更高的要求。为了保证多模终端能够以高成功率由TD-LTE小区向TD-SCDMA小区切换并保证基本业务的连续性,同时不发生异常，支持TD-LTE向TD-SCDMA硬切换的多模终端综合测试仪将在TD-LTE/TD-SCDMA终端的商用进程中起到至关重要的作用。同时支持高速切换的多模终端综测仪表的研发和推广，对于仪表产业在终端测试行业具有十分重要的意义。

传统TD-LTE/TD-SCDMA多模终端综合测试仪采用独立的射频通道和系统模拟器，仪器工作在TD-SCDMA模式时,时钟发生模块产生1.28MHz的整数倍的参考时钟，对中频信号进行数模、模数转换，把数据进行调制、解调和测量。而从TD-SCDMA模式切换到TD-LTE模式时需重新配置时钟发生模块，产生30.72MHz整倍速率的参考时钟进行中频信号处理，同时还需要把TD-SCDMA系统模拟器切换到TD-LTE系统模拟器后，才能完成相关测量，因此，研发多模并行处理、快速切换的综测仪已迫在眉睫。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种实现多模并行处理、在TD-LTE和TD-SCDMA之间快速切换的多模终端综合测试仪的模式切换装置。

为实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：一种多模终端综合测试仪的模式切换装置，包括与待测试终端设备相连的高性能本振模块，其输入输出端依次通过射频通道模块、AD/DA转换器与全数字中频处理模块的输入输出端相连，全数字中频处理模块的输入输出端分别与TD-LTE系统模拟器、TD-LTE测量分析模块、TD-SCDMA系统模拟器、TD-SCDMA测量分析模块的输入输出端相连，时钟发生装置的输出端分别与模式切换开关、AD/DA转换器的输入端相连，模式切换开关的输出端与全数字中频处理模块的输入端相连。

所述的待测试终端设备通过射频电缆与高性能本振模块的输入输出端相连。

所述的AD/DA转换器由A/D转换器和D/A转换器组成，时钟发生装置的输出端分别与A/D转换器、D/A转换器的时钟端口相连；射频通道模块的输出端与A/D转换器的输入端相连，D/A转换器的输出端与射频通道模块的输入端相连；A/D转换器的输出端与全数字中频处理模块的输入端相连，全数字中频处理模块的输出端与D/A转换器的输入端相连。

所述的TD-LTE系统模拟器、TD-LTE测量分析模块、TD-SCDMA系统模拟器、TD-SCDMA测量分析模块的输入输出端均与控制/显示模块的输入输出端相连。

所述的时钟发生装置由VCO锁相环和时钟分配器组成，所述的VCO锁相环的输出端与时钟分配器的输入端相连，时钟分配器的输出端分别与A/D转换器、D/A转换器的时钟端口相连，时钟分配器的输出端通过模式切换开关与全数字中频处理模块的FPGA控制器的时钟端口相连。

由上述技术方案可知，当测量信号模式改变时，只需要切换模式切换开关，就可以切换采样时钟和对应的系统模拟器，对当前数据进行处理，完成模式的快速切换，从而可以进行快速测量。本实用新型在切换过程中利用多系统模拟器、多时钟、多分析模块的并行处理，避免了传统方法在切换过程中需要重新加载系统模拟器程序和模式删除、重建的问题，提高了系统效率，降低了流程出错的风险，提高了系统的稳定性。

附图说明

图1是本实用新型的电路框图。

图2是本实用新型时钟发生的工作示意图。

图3是本实用新型并行上行数据分析与测量的工作示意图。

图4是本实用新型并行下行数据分析与测量的工作示意图。

图5是本实用新型中全数字中频处理模块上行数据处理的工作示意图。

图6是本实用新型中全数字中频处理模块下行数据处理的工作示意图。

具体实施方式