[实用新型]一种红外热像仪的校准设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种校准设备，尤其是涉及一种红外热像仪的校准设备。

背景技术

红外热像仪还可以用来探测电气设备的不良接触，以及过热的部件，以免引起严重短路和火灾。

统计数据表明，在所有电气设备常见缺陷中的25％以上具有发热的特点，往往是由于接触不良引发。对于所有可以直接看见的设备，红外热成像产品都能够确定所有连接点的热隐患。对于那些由于屏蔽而无法直接看到的部分，则可以根据其热量传导到外面的部件上的情况，来发现其热隐患。红外热成像产品还可以很容易地探测到回路过载或三相负载的不平衡。若不采用红外热像技术，只能通过解体检查和清洁接头来发现设备接触不良和过热，效率低。当然，对于断路器、导体、母线及其它部件的常规试验而言，红外热成像产品是无法取代的。

但是红外热像仪由于涉及较多的敏感元器件，因此需要对其进行定期的检测校准以便保证其能够正常工作，但是目前缺少一种方便快捷，且较为规范的校准设备。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种方便、快捷的红外热像仪的校准设备。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种红外热像仪的校准设备，包括恒温箱、调节支架、计算机、监视器、辐射源以及用于测量辐射源温度的参考标准器，待校准的红外热像仪设在调节支架上，并置于恒温箱内，所述的计算机连接红外热像仪和监视器，所述的辐射源正对红外热像仪设置。

所述的调节支架为可进行旋转和三轴移动的支架。

所述的辐射源为腔式黑体。

所述的参考标准器为铂电阻温度计、热电偶温度计或辐射温度计。

与现有技术相比，本实用新型通过调节支架可以快速调节红外热像仪的成像目标，通过计算机由高分辨率的监视器对红外热像仪的采集图像进行显示，结合辐射体的温度作为参考，从而快速判断红外热像仪内的敏感元器件时候合格，校准快捷且较为规范。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。

实施例

如图1所示，一种红外热像仪的校准设备，包括恒温箱1、调节支架2、计算机3、监视器4、辐射源5以及参考标准器。待校准的红外热像仪6设在调节支架2上，并置于恒温箱1内进行环境温度调节，由于调节支架可以进行旋转和三轴移动，能够快速调节红外热像仪的成像目标。计算机3连接红外热像仪6和监视器4，采集成像信息，并通过高分辨率的监视器进行显示。辐射源5可以采用腔式黑体，正对红外热像仪6设置，并通过参考标准器标定其温度，作为校准参考。为了保证标定的准确性，参考标准器可以根据不同情况使用铂电阻温度计、热电偶温度计或辐射温度计。