[实用新型]电子设备测试系统有效

专利信息
申请号: 201320126928.5 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN203149056U 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 吴德伟 申请(专利权)人: TCL显示科技(惠州)有限公司;惠州泰科立集团股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G09G3/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 邓云鹏
地址: 516003 广东省惠州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 测试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及电子产品的测试领域,特别是涉及一种电子设备测试系统。 

背景技术

在电子产品的生产过程中,通常都要对电子产品的各个模组进行测试,以保证其模组功能正常,避免组装后出现问题。例如,在电子设备的显示模组(LCDmodule)的测试中,需要连接测试板,接收测试板发送的图像显示数据,根据所述图像显示数据显示相应的图像,测试人员通过观察显示图像判断显示模组是否存在问题。电子设备的其他模组也采用类似的方式,从测试板获取测试数据,以检查模组功能是否正常。测试板与待测的功能模组之间一般要通过转接板进行连接,以使测试板能够适应连接不同数据接口的功能模组。 

测试的过程大致描述如下:断开测试板的输出电源,通过转接板连接测试板和待测试功能模组,待连接好后打开测试板的输出电源为待测的功能模组供电,然后将测试板复位开始测试工作。这样做的目的是防止测试板带电连接待测试的功能模组时,由于连接差错导致功能模组短路,损坏功能模组。 

传统的测试方法中,上述过程全部采用人工控制。请参考图1,首先是测试板的输出电源的开启和断开,是采用开关控制的,其次是复位信号的发出也是通过按钮发出。那么测试人员在测试过程中首先关闭开关1,断开测试板的输出电源,连接转接板和功能模组;然后打开开关1,恢复测试板的输出电源;之后按下复位按钮2,使测试板恢复到初始状态,开始对功能模组进行预设的测试。 

在产品量产时,功能模组的测试时间会影响产品的生产效率。上述传统的测试方法一方面由于采用人工控制,开关的开闭容易出现差错,另一方面由于操作相对繁琐,因而测试效率难以提高。 

实用新型内容

基于此,有必要提供一种测试效率较高且能够避免操作差错的电子设备测 试系统。 

一种电子设备测试系统,包括:测试板,输出测试数据和供电电压;转接板,连接所述测试板和待测试的电子设备的功能模组,将测试板输出的测试数据和供电电压输出给所述功能模组;以及接近感应模块,与所述转接板连接,用于在感应到物体时,控制所述转接板停止输出所述供电电压;否则控制所述转接板恢复输出所述供电电压并向测试板发送复位信号。 

在其中一个实施例中,所述测试板与转接板通过排线连接,所述排线包括数据线、复位信号线以及电源线。 

在其中一个实施例中,所述接近感应模块包括接近感应器和控制器,所述接近感应器用于感应是否有人手接近并产生相应的感应信号,所述控制器根据所述感应信号控制转接板停止或恢复输出供电电压、发送复位信号。 

在其中一个实施例中,所述控制器通过排线与所述转接板连接,所述排线包括复位控制线和供电控制线。 

在其中一个实施例中,所述接近感应器为红外传感器,所述控制器为单片机。 

在其中一个实施例中,所述接近感应器设于所述转接板与功能模组连接的接口处。 

在其中一个实施例中,所述转接板与功能模组的接口为焊接式接口、卡扣式接口或插拔式接口。 

在其中一个实施例中,所述接近感应器粘贴或通过螺丝固定在所述转接板上。 

在其中一个实施例中,所述接近感应器的数量为两个以上。 

在其中一个实施例中,所述电子设备为液晶显示器,所述待测试的功能模组为液晶显示模组。 

采用上述电子设备测试系统,当连接待测的功能模组时,接近感应模块感应到物体靠近,能够控制转接板及时切断所述供电电压,这样由于供电断开,功能模组就不会带电与转接板连接,因此可以避免短路的发生,保护功能模组。 而当连接完成后,人手远离后,转接板即恢复供电,同时向测试板输出复位信号,整个测试过程将自动开始,由此简化了测试过程,提高测试效率。 

附图说明

图1为传统的测试系统示意图; 

图2为本实用新型一实施例的电子设备测试系统模块结构图; 

图3为对LCM进行测试的模块结构图。 

具体实施方式

如图2所示,为本实用新型一实施例的电子设备测试系统模块结构图。该电子设备测试系统10包括依次连接的测试板100、转接板200和接近感应模块300。转接板200连接测试板100和待测试的电子设备的功能模组20。 

测试板100输出测试数据和供电电压。测试板100根据待测试的功能模组20的功能,来输出各种测试数据。例如当电子设备为液晶显示器,功能模组20为液晶显示模组(LCM)时,测试板100输出与显示相关的测试数据。 

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