[实用新型]一种线束检测电路及装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路检测领域，尤其涉及一种线束检测电路及装置。

背景技术

对于线束的检测，通常方案采用万用表测试待检测线束是否连通，此种检测方案的缺点是，在检测复杂系统的线束时，由于线束多使得万用表较难测量且工作量大，并且较难找出对应的线束。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：

提供一种线束检测电路，包括多路彼此隔离的检测电路，每路检测电路包括电源、第一接线端、第二接线端、电阻以及发光二极管，所述电源接入所述第一接线端，所述第二接线端、电阻及发光二极管的正极顺次相连，所述发光二极管的负极接于地线，其中，每路检测电路的地线彼此不相同，所述第一接线端和第二接线端用于电连接于待测线束的两端，当线束接通时所述发光二极管导通。

其中，所述第一接线端和第二接线端为可插拔接线式端子。

本实用新型采用的另一个技术方案是：

提供一种线束检测装置，包括权利要求所述的线束检测电路，所述线束检测装置还包括MCU以及与所述MCU电连接的译码器，所述MCU用于驱动译码器在每一路检测电路的轮询的时间内仅导通该路检测电路的电源。

其中，所述译码器为CD4514及CD4515成对译码器。

本实用新型的线束检测电路及装置，通过MCU控制译码器在每一路检测电路的轮询的时间内仅导通该路检测电路的电源，实现多路隔离供电，当线束接通时所述发光二极管导通发光，当任意两个线束与接线端连接错序时，即当将同一线束分别接入两路检测线路的接线端之间时，错接的两路检测线路对应的发光二极管截止，均不发光，实现对错序的判别。进一步地，所述线束检测电路使用可插拔接线式端子，相应地，可检测具有各种规格端子的线束，易扩展升级。

附图说明；

图1是本实用新型一实施方式中线束检测电路的电路连接图；

图2是本实用新型一实施方式中线束检测装置的结构框图。

主要元件符号说明：

MCU100；译码器200；线束检测电路300。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。

请一并参阅图1，是本实用新型一实施方式中一种线束检测电路的电路连接图，该线束检测电路300包括多路彼此隔离的检测电路，下面以第n路检测电路为例对每路检测电路的电路连接原理进行说明，第n路检测电路包括电源VCn、第一接线P1n、第二接线端P2n、电阻Rn以及发光二极管Dn，所述电源VCn接入所述第一接线端P1n，所述第二接线端P2n、电阻Rn及发光二极管Dm的正极顺次相连，所述发光二极管Dn的负极接于地线GND，其中，每路检测电路的地线彼此不相同，所述第一接线端和第二接线端用于电连接于待测线束的两端，当线束接通时所述发光二极管导通发光。

在本实施方式中，所述第一接线端和第二接线端为可插拔接线式端子，相应地，可检测具有各种规格端子的线束，易扩展升级。

请参阅图2，是本实用新型一实施方式中一种线束检测装置的结构框图。该线束检测装置包括所述的线束检测电路300，所述线束检测装置还包括MCU100以及与所述MCU100电连接的译码器200，所述MCU100用于驱动译码器200在每一路检测电路的轮询的时间内仅导通该路检测电路的电源，实现多路隔离供电，当任意两个线束与接线端连接错序时，即当将同一线束分别接入两路检测线路的接线端之间时，错接的两路检测线路对应的发光二极管截止，均不发光，实现对错序的判别。

在本实施方式中，所述译码器200为CD4514及CD4515成对译码器，每一路轮询的时间都为微妙极。

本实用新型的线束检测电路及装置，通过MCU控制译码器在每一路检测电路的轮询的时间内仅导通该路检测电路的电源，实现多路隔离供电，当线束接通时所述发光二极管导通发光，当任意两个线束与接线端连接错序时，即当将同一线束分别接入两路检测线路的接线端之间时，错接的两路检测线路对应的发光二极管截止，均不发光，实现对错序的判别。进一步地，所述线束检测电路使用可插拔接线式端子，相应地，可检测具有各种规格端子的线束，易扩展升级。