[实用新型]一种哈特曼波前测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于光学系统中波前测试领域，具体涉及一种哈特曼波前测试系统，用来对光束波面进行测试。

背景技术

在光学系统中，通常需要对光束的波前进行测试，其测试结果可以用来表征光束波面起伏，从而评价光束的波面好坏，同时，其测试结果也可以作为光束波前校正的信号来源。目前，公知的波前测试系统基本上都是采用哈特曼测试系统来实现的，其测试系统的结构都是采用缩束器将光束进行缩束，在缩束后的光路中放置衰减片和透镜阵列，在透镜阵列的焦点上放置CCD相机或者CMOS相机对波前进行测试。这种传统的哈特曼波前测试系统在实际应用中衰减片放置和调节不方便，缩束系统受温差影响会造成透镜阵列的焦点不在CCD光敏面上，影响测试的准确性，同时，透镜阵列的安装和更换也比较麻烦。

实用新型内容

为了克服已有技术中哈特曼波前测试系统中衰减片的放置和衰减片的调节不方便，缩束系统受温差的影响造成透镜阵列的焦点不在CCD光敏面上以及透镜阵列的安装和更换比较麻烦等不足，本实用新型提供了一种新型的哈特曼波前测试系统。

本实用新型采用如下技术方案：一种哈特曼波前测试系统，所述的波前测试系统包括物镜组件、衰减片组件、定位支架、殷钢杆、目镜组件、目镜支架、透镜阵列和CCD相机，同时还包括底座、前盖板、前外罩、后外罩、盖板等部件。殷钢杆依次穿过物镜组件、定位支架、目镜支架的定位孔，由夹紧螺钉将殷钢杆夹紧，将其组合件紧固在的底板上，衰减片组件安装在目镜组件前面，紧固在底板上，目镜组件安装在目镜支架上，透镜阵列安装在CCD的接口环上，其焦平面与CCD光敏面重合，并将CCD紧固在底板上，前外罩、后外罩和前盖板分别与底板相连，盖板放置在后外罩的方孔上方。所述的新型的哈特曼波前测试系统可以用在光束波前测试中，其测试结果可以评价光束波面的好坏，同时，测试的波面信息可以作为光束波前校正的信号来源。

所述的外罩分为前外罩和后外罩，在缩束透镜调试完毕之后，前外罩一般不用拆卸，而后外罩拆卸方便，便于透镜阵列和相机的更换。

所述的后外罩上方有一开孔，揭开盖板即可对衰减片进行调节，操作方便。

所述的物镜组件、定位支架以及目镜支架用殷钢杆串通紧固，由于殷钢的温漂特性很小，其组合体相对位置受温度影响较小。

所述的衰减片组件为固定倍率衰减片和变密度衰减盘的组合，使用和调节方便。

所述的目镜支架通过殷钢杆进行紧固连接，滑动目镜支架，可以随意实现调焦功能。

所述的透镜阵列口径与缩束后的光斑尺寸相匹配。

从本实用新型的结构特征可以看出：本实用新型的哈特曼波前测试系统，应用于光束波面测试。光束经物镜组件、衰减片组件和目镜组件后以平行光形式入射到透镜阵列上，通过透镜阵列的平行光束被分成与透镜单元数相同的聚焦光斑并在CCD光敏面上形成点阵，由CCD对聚焦的光斑阵列进行处理从而测试出光束的波前面形。本实用新型的哈特曼波前测试系统结构简单、透镜阵列的焦平面与CCD光敏面之间的位置受温度较小，同时，目镜调焦、CCD更换以及衰减片的调节都很方便。

附图说明

本实用新型将通过实施例并参照附图的方式说明，其中：

图1是哈特曼波前测试系统外部结构示意图；

图2是哈特曼波前测试系统去外罩结构示意图；

其中：1是前盖板  2是前外罩  3是底板  4是盖板  5是后外罩  6是物镜组件  7是殷钢杆  8是定位支架  9是光束  10是定位支架  11是衰减片组件  12是目镜支架  13是目镜组件  14是透镜阵列  15是CCD  16是CCD支架。 

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的说明。