[实用新型]一种电参数测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电流与电压测试领域，尤其涉及一种电参数测试装置。 

背景技术

目前，电流与电压测试装置是各种电子产品生产测试中常用的工具之一，其用于测试电子产品在不同条件下工作过程中的工作电流和工作电压，以此衡量电子产品在特定条件下的性能，这样就能检测得知电子产品的合格率以确保其稳定性和寿命周期，这对于提高电子产品的质量有重要帮助。 

现有的电流与电压测试装置多采用万用表或类似于万用表之类的测试工具，由于此类测试工具在检测电流时需要将其串联到被测电路中，则在不同条件下对每个电子产品进行多次测试时均需要变换电流与电压测试装置的量程，但在变换量程的过程中往往会断开测试回路，或者使电子产品的工作电压降低，进而导致加载在电子产品上的电压不处于正常的工作电压范围内（即掉电），使电子产品不能正常工作，从而需要再次重启测试回路。例如，在测试存储类产品（如U盘、SD卡、TSD卡等存储设备）的工作电流时，需要使存储类产品持续工作（即对存储类产品进行持续读写），进而测试其在持续读写过程中的工作电流或工作电压，且不同的产品在不同条件下的工作电流和工作电压也不尽相同，所以在测试时还需要调整量程；在测试回路上电后，根据测试结果选择不同的量程，一般情况下，上电后的默认量程为小电流量程（因为电流过大容易烧坏测试装置）；当量程由小电流量程转换为大电流量程后，消耗在测试回路电阻上的电压会增大，进而导致加载在在测存储类产品上的电压 不足，从而导致在测存储类产品掉电。 

在对存储类产品进行测试的过程中，如果在量程变换时导致在测存储类产品掉电，则对在测存储类产品的读写也将停止，这就不能满足持续读写测试的需要，那么，此时需要对测试回路进行重新通电。而在重新对在测存储类产品持续读写后，再测试其工作电流或工作电压会导致降低测试灵活性，特别地，在批量测试时还会进一步降低测试效率。 

综上所述，现有的测试工具在切换量程时会使在测电子产品掉电，进而导致测试灵活性低且测试效率低。 

实用新型内容

本实用新型提供了一种电参数测试装置，旨在解决现有的测试工具因在切换量程时会使在测电子产品掉电而导致测试灵活性低且测试效率低的问题。 

本实用新型是这样实现的，一种电参数测试装置，包括主机、数据采集处理模块及量程选择模块，所述主机对所述数据采集处理模块所采集的测试回路的电流数据和/或电压数据进行分析处理，所述数据采集处理模块连接电源，所述量程选择模块对量程进行变换，所述量程选择模块包括多路模拟开关和多个电阻，所述多个电阻中每个电阻均连接于所述电源和所述多路模拟开关之间，所述多路模拟开关还与所述数据采集处理模块共接于待测电子设备； 

所述电参数测试装置还包括与所述电源、所述多路模拟开关及所述多个电阻相连接，在所述主机驱动所述多路模拟开关变换所述多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换的过程中保持所述待测电子设备持续通电的测试保护模块。 

本实用新型通过在电参数测试装置中采用测试保护模块，可在主机驱动量 程选择模块中的多路模拟开关变换所述多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换时保持待测电子设备持续通电，进而使待测电子设备在测试过程中不掉电，从而提高了测试灵活性和测试效率，解决了现有的测试工具因在切换量程时会使在测电子产品掉电而导致测试灵活性低且测试效率低的问题。 

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的电参数测试装置的模块结构图； 

图2是本实用新型一实施例提供的电参数测试装置的示例结构图； 

图3是本实用新型另一实施例提供的电参数测试装置的示例结构图； 

图4是本实用新型又一实施例提供的电参数测试装置的示例结构图。 

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。 

本实用新型实施例通过在电参数测试装置中采用测试保护模块，可在主机驱动量程选择模块中的多路模拟开关变换多个电阻中接入测试回路的电阻以实现量程切换时保持待测电子设备持续通电，进而使待测电子设备在测试过程中不掉电，从而提高了测试灵活性和测试效率。 

图1示出了本实用新型实施例提供的电参数测试装置的模块结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分，详述如下: