[实用新型]正比计数器清洗装置

说明书

技术领域：

本实用新型涉及仪器内部清洗技术，具体适用于流气式和封闭式正比计数器的清洗装置。

背景技术：

正比计数器是以某种气体在X射线照射下产生电离而形成电脉冲为依据的核辐射探测器，由于它寿命长、体积小并可在常温下工作且有较好的能量分辨率，是波长色散XRF谱仪必备的探测器。在能量色散XRF谱仪中仍有广泛应用。

在X荧光光谱仪中，探测器的好坏对最终测量结果影响极大。而影响探测器性能的因素又主要有以下几方面：

1、探测器本身的气体密度和纯度变化；

2、探测器被污染，如探测器内部灰尘，染上油污等；

3、探测器内部金属丝张力下降。

所有这些因素都会使探测器变得“迟钝”，分辨率和计数率发生变化，不能满足用户使用；需要更换新的探测器，增加相应成本。

常用的正比计数器一般分为流气式和封闭式，对于计数器内部要求清洁度比较高，用户一般不能自行拆卸安装，厂家也采用一次性灌封焊接。对于性能下降的计数器只能更换，没有清洗的方法，因此正比计数器价格比较昂贵。

实用新型内容：

鉴于现有计数器不能拆卸清洗的问题，本实用新型目的在于提供一种全新的适用于流气式、封闭式正比计数器的清洗装置。本实用新型能在不更换计数器的前提下对计数器进行清洗以延长其使用寿命。

本实用新型所采取的技术方案是：一种正比计数器清洗装置，它包括一微控制器，所述微控制器与一通断控制器以及电源、指示灯、蜂鸣器相连，所述微控制器与电源之间有电源开关控制，所述通断控制器的正、负极上分别引接出一接线，所述正极接线与正比计数器的探测丝的负极相连，所述负极接线与正比计数器的探测丝的正极相连。

所述微控制器采用PIC8位型号的控制芯片。

所述微控制器里面还有电源调理芯片和计时器。

所述通断控制器采用微型的双刀双掷继电器。

所述指示灯有两个，一个是电源指示灯，另外一个工作指示灯。

本实用新型清洗装置体积小、重量轻、便携性好，利用其的清洗方式为物理方式，不改变被清洗物其物理属性，旨在通过这种方式使其表面附着的脏物脱落。本实用新型清洗方式新颖独特，实用性强，操作简易，每一个仪器使用人员都能很容易的学会操作。利用本实用新型对正比计数器进行清洗，能方便的延长探测器使用寿命，避免了频繁更换探测器，降低了X荧光光谱使用成本。

附图说明：

图1为正比计数器清洗装置构成图；

图2为正比计数器清洗装置工作连接图；

图3为清洗前后正比计数器的计数变化曲线图。

具体实施方式：

下面结合附图具体说明本实用新型。

本实用新型提供一种全新的正比计数器清洗装置，它是采用电热法清洗，其清洗原理是：利用探测器内探测丝具有一定的阻值，当有电流通过时，由电功率公式P=I2R可知，探测器会产生热效应致使探测丝发热。本实用新型研究表明，探测丝发热会将附着在探测丝上的细小尘埃烧结剥落，从而使剥落的尘埃随着流动的工作气体排到外界；油污在加热情况下会蒸发，也会随着流动的工作气体排到外界，以此达到清洗正比计数器内部尘土、油污的目的。

因此，本实用新型借助于一清洗装置，给计数器通电加热，通过控制通电时间和频率达到不同的清洗效果。

该清洗装置主要包括以下几个部分：微控制器31、通断控制器32、电源33、指示灯34、蜂鸣器35、接线36、电源开关37，参见图1所示：其中，微控制器31与通断控制器32、指示灯34、蜂鸣器35都是电连接，并且由电源33供电，电源33与微控制器31之间有电源开关37控制。微控制器31可采用PIC8位型号的控制芯片，此外微控制器31里还有电源调理芯片。

通断控制器32连接正比计数器1，具体为：它通过两根接线36连接到计数器的探测丝2两端，接线的负极接探测丝2的正极，接线的正极接探测丝2的负极，形成一串联电路，如图2所示。通断控制器32的作用是为探测器提供电源和采集信号，可采用微型的双刀双掷继电器。

微控制器31通过通断控制器32检测正比计数器1的电源是否接通，并且通过电源调理芯片加载2v左右的电压检测探测丝是否断丝损坏，如果在正常阻值范围内，则施加此电压进行清洗工作。如果没有连接好或者是探测器内部探测丝已损坏，清洗装置是不会工作的。

微控制器31可预设清洗时间及间隔时间，清洗时间一般为几秒，间隔时间一般为30秒；或者不设间隔时间，默认为清洗一次。微控制器31内有计时器，自动计时。

指示灯34有两个，一个是电源指示，另外一个是当正确连接探测器时作为工作指示。