[实用新型]一种带调光电路的静电衰减时间测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试仪，特别是一种可对各种材料在复杂环境下进行静电测试的带调光电路的静电衰减时间测试仪。

背景技术

静电衰减时间常数是衡量防静电材料性能的重要物理量，对静电衰减时间常数的测量对于防治静电危害是十分重要的。判别生产过程中静电的影响程度，检验静电防护产品，评价防静电措施效果及其发生静电放电危害后进行的静电放电模拟测试，都需要测量静电及其有关参数。静电衰减时间测量是通过某种方法使被测试样带电至稳定初始电位值后，撤除作用于被测试样的静电发生装置，然后将被测试样接地，使其开始放电，同时利用监测系统实时测量被测试样表面静电电位随时间变化的衰减信号，计算出电荷减少至设定终止电位的衰减时间，并以此为依据来评价被测材料的防静电性能。现有静电衰减时间的测量方法根据被测材料结构以及实际环境下带电方式的不同，主要分为电晕喷电法、充电法和摩擦法3类。目前，市面上的静电电荷衰减试验仪器种类比较繁多，但是一般使被测试样带电的方式只有一种，只能用于评价某一类结构材料或者某一种带电方式下的静电性能，功能普遍单一。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种可同时测量三种带电方式的材料静电衰减时间常数的带调光电路的静电衰减时间测试仪。

为解决上述技术问题，本实用新型采用了一种带调光电路的静电衰减时间测试仪，包括单片机、稳定高压源、静电起电装置、非接触式静电电位传感器、信号放大电路、A/D转换器、调光电路、键盘和显示器，所述静电起电装置包括充电法装置、电晕喷电装置和摩擦法装置；所述调光电路内置一可由外界亮度触发自身阻值的感光管、一可变电阻器以及通过电容激发的可控硅，感光管通过外界光线强度变化，并结合可变电阻器阻值变化控制显示器的光线强度；所述单片机连接稳定高压源，稳定高压源与静电起电装置连接，为充电法装置和电晕配电装置供电；非接触式静电电位传感器连接信号放大电路，所述信号放大电路连接A/D转换器，A/D转换器将数字信号送至单片机。

本实用新型具有的有益效果：该带调光电路的静电衰减时间测试仪集电晕喷电法、充电法、摩擦法等三种方法为一体，便于全面评价被测试样的静电性能，能够更合理、更真实地反映被测材料的静电衰减特性。

附图说明

图1是本实用新型的系统结构框图。

具体实施方式

为了能更进一步了解本实用新型的特征以及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，下面结合附图详细说明本实用新型的最佳实施例，并非用来对本实用新型加以限制。

如图1所示，该带调光电路的静电衰减时间测试仪，包括单片机3、稳定高压源4、静电起电装置、非接触式静电电位传感器5、信号放大电路11、A/D转换器10、调光电路9、键盘1和显示器2，所述静电起电装置包括充电法装置6、电晕喷电装置7和摩擦法装置8；所述调光电路9内置一可由外界亮度触发自身阻值的感光管、一可变电阻器以及通过电容激发的可控硅，感光管通过外界光线强度变化，并结合可变电阻器阻值变化控制显示器的光线强度；所述单片机3连接稳定高压源4，稳定高压源4与静电起电装置连接，为充电法装置6和电晕配电装置7供电；非接触式静电电位传感器5连接信号放大电路11，所述信号放大电路11连接A/D转换器10，A/D转换器10将数字信号送至单片机3。

电荷衰减时间测量是通过充电法、电晕喷电法或摩擦法使被测试样带电至稳定初始静电电压后，撤除作用于被测试样的静电发生装置，然后将被测试样迅速接地使其开始放电，同时利用以单片机为核心的监测系统实时测量被测试样表面静电电位随时间变化的衰减信号，计算出电荷减少至设定终止电位的衰减时间，并以此为依据来评价被测材料的防静电性能。