[实用新型]数字化继电保护测试装置有效

专利信息
申请号: 201320029803.0 申请日: 2013-01-21
公开(公告)号: CN203104497U 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 黄勇;陆伟;张鹏 申请(专利权)人: 武汉中元华电科技股份有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 唐正玉
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 数字化 保护 测试 装置
【权利要求书】:

数字化继电保护测试装置,包括中央处理器CPU、复杂可编程逻辑器件CPLD、存储器、现场可编程门阵列FPGA、通用异步接收/发送装置UART、千兆光纤以太网模块、电以太网模块,所述的存储器为Flash存储器和DDR2存储器,其特征在于:CPU分别与CPLD、DDR2存储器、通用异步接收/发送装置UART、FPGA、电以太网模块相连,Flash存储器与CPLD相连,FPGA与千兆光纤以太网模块相连。

根据权利要求1所述的数字化继电保护测试装置,其特征在于:所述的千兆光纤以太网模块由千兆以太网控制器、千兆光纤以太网物理层芯片和光纤收发器组成,千兆以太网控制器安装在FPGA内,千兆光纤以太网物理层芯片通过接口与千兆以太网控制器相连,光纤收发器与千兆光纤以太网物理层芯片相连。

根据权利要求1所述的数字化继电保护测试装置,其特征在于:所述的电以太网模块为上、下位机通讯的接口,由电以太网控制器和电以太网物理层组成,电以太网控制器安装CPU内并与电以太网物理层相连,电以太网物理层通过RJ45与外部器件相连。

根据权利要求1所述的数字化继电保护测试装置,其特征在于:所述的Flash存储器容量为256Mbit,所述的DDR2存储器由4片 X16 1G DDR2扩展为64位DDR2。

根据权利要求1所述的数字化继电保护测试装置,其特征在于:所述的UART为两个,两个UART都与CPU相连。

根据权利要求1所述的数字化继电保护测试装置,其特征在于:所述的FPGA设有八个光纤以太网接口,每个接口能与千兆光纤以太网物理层芯片相连。

根据权利要求1‑6之一所述的数字化继电保护测试装置,其特征在于:还包括LED灯, LED灯与CPLD相连。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉中元华电科技股份有限公司,未经武汉中元华电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320029803.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top