[实用新型]一种光模块调试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及光纤通信技术，尤其涉及一种光模块调试系统。

背景技术

日前光通信市场正处于飞速发展阶段，随着技术的成熟和市场对带宽的需求，光纤通信系统已开始规模应用并逐步进入千家万户。进行光电转换的光模块则是光纤通信系统中的核心部件，应用在光纤通信系统中的多种设备中，如OLT（Optical Line Terminator，光线路终端）、ONU（optical net unit，光网络单元）、光端机等。

光模块在出厂、被安装到光纤通信系统之前，需要经过调试过程。光模块的调试过程在厂家的调试生产线上进行，主要是将出厂的光模块发射激光的光功率和消光比调试在一个合适的范围。

目前现有技术的调试生产线上的调试系统，如图1所示，包括：调试主机（可以是PC机）、通信板、误码仪、光功率计、被调试光模块。

调试主机通过通信板与被调试光模块的MCU（Microprogrammed ControlUnit，微程序控制单元）通信；具体地，调试主机可以是PC机，其与通信板之间通过USB（Universal Serial Bus，通用串行总线）接口通信，通信板与被调试光模块的MCU之间通过IIC总线通信；调试主机通过USB接口向通信板发送指令和数据，通信板接收到调试主机发送的指令和数据后，通过IIC（Inter-Integrated Circuit，交互集成电路）总线将指令和数据转发到光模块的MCU，从而实现调试主机对光模块的控制。

调试主机还与光功率计和误码仪通信，用以控制光功率计和误码仪，或从光功率计和误码仪读取数据。

现有技术的调试系统的调试过程为：调试主机控制误码仪的输出高频的差分电信号作为数据电信号发送到被调试光模块；

被调试光模块接收到误码仪发送的数据电信号后，将接收的数据电信号转换为光信号后进行发射；

光功率计检测被调试光模块发射的光信号的光功率；

调试主机从光功率计读取检测的光功率值，并根据读取的光功率值通过通信板向被调试光模块的MCU中的DCB current DAC寄存器写入数据，用以调整被调试光模块中的驱动电路输出到激光器的偏置电流，从而调整了被调试光模块发射的激光的光功率。

在调试主机从光功率计读取的光功率值达到期望的光功率值P0后，则停止调整被调试光模块的MCU中的DCB current DAC寄存器中的数据，完成该被调试光模块的光功率的调试。

之后，进行被调试光模块的消光比的调试：

调试主机通过通信板向被调试光模块的MCU中的Mod current DAC寄存器写入数据，用以调整被调试光模块中的驱动电路输出到激光器的调制电流；调试主机逐渐加大写入Mod current DAC寄存器的数据，从而逐渐加大被调试光模块中的驱动电路输出到激光器的调制电流；当调试主机从光功率计读取的光功率值达到期望的光功率值P1后，停止调整被调试光模块的MCU中的Mod current DAC存器中的数据，完成该被调试光模块的消光比的调试。

现有技术的调试方法由于需要采用误码仪、光功率计等较为昂贵的设备，对于批量生产和调试光模块的生成线，则需要投入大量的资金和成本；因此，现有技术的光模块调试系统和调试方法具有较高的成本。

实用新型内容

本实用新型的实施例提供了一种光模块调试系统，用以降低光模块的调试成本。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种光模块调试系统，包括：

调试板，其包括差分晶振，用以为安装于所述调试板上的被调试光模块提供数据电信号；

调试通信主板，其包括单片机和监控光模块，所述监控光模块通过光纤与所述被调试光模块相连，其通过光电二极管探测所述被调试光模块接收所述数据电信号后发射的光信号，并检测所述光电二极管探测到光信号后所产生的响应电流；所述单片机通过第一总线与所述被调试光模块的MCU通信，通过第二总线与所述调试光模块的MCU通信；

调试主机，与所述单片机通过通信总线连接，所述调试主机通过所述单片机获取所述监控光模块检测的响应电流；根据获取的响应电流计算光功率；根据计算的光功率通过所述单片机调整被调试光模块中的偏置电流，进行所述被调试光模块的光功率的调试。

进一步，所述调试主机在完成所述被调试光模块的光功率的调试后，根据计算的光功率通过所述单片机调整被调试光模块中的调制电流，进行所述被调试光模块的消光比的调试。