[发明专利]提高固态硬盘可靠性方法和装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及通信技术，尤其涉及一种提高固态硬盘可靠性方法和装置。

背景技术

固态硬盘（Solid State Disk，简称SSD）一般采用与非门闪存（NAND Flash）来实现，广泛应用于服务器、台式机、笔记本、移动设备、游戏机等。固态硬盘（Solid State Disk，简称SSD）的闪存颗粒主要有多层式储存单元（Multi Level Cell，简称MLC）和单层式储存单元（Single Level Cell，简称SLC），由于MLC在价格上比SLC便宜的多，目前运用最广泛的为MLC。

随着芯片的制造技术的更新，闪存颗粒的擦写寿命变得越来越低，对应的使其读寿命也降低，闪存颗粒出现不可恢复的错误的概率也越来越大，而且不同闪存颗粒间的可靠性也各不相同。而现在的SSD设计依赖闪存颗粒的可靠性越来越强，当某一个闪存颗粒失效，就会导致整个SSD不再可靠。现有技术中通过在SSD之间建立独立磁盘冗余阵列（Redundant Array of Independent Disks，简称RAID），使用冗余硬盘进行数据保护来保证SSD的可靠性，然而，当一个闪存颗粒失效后，仍然继续使用该失效的闪存颗粒导致数据丢失，不能保证SSD的可靠性甚至导致SSD不能使用。

发明内容

本发明实施例提供一种提高固态硬盘可靠性方法和装置，以解决在固态硬盘的闪存颗粒失效后，整个固态硬盘可靠性不能保证甚至不能使用的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种提高固态硬盘可靠性方法，包括：

判断固态硬盘的第一闪存颗粒是否即将失效；

若确定所述第一闪存颗粒即将失效，则禁止向所述第一闪存颗粒写入数据；

将所述第一闪存颗粒上的数据迁移到所述固态硬盘上的第二闪存颗粒上，所述第二闪存颗粒为所述固态硬盘的有效闪存颗粒。

在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述判断固态硬盘的第一闪存颗粒是否即将失效，包括：

统计所述第一闪存颗粒内处于异常状态的块的数目；

确定所述第一闪存颗粒内处于异常状态的块的数目是否大于等于第一预设门限值；

若确定所述第一闪存颗粒内处于异常状态的块的数目大于等于第一预设门限值，则确定所述第一闪存颗粒即将失效。

根据第一方面，在第二种可能的实现方式中，所述判断固态硬盘的第一闪存颗粒是否即将失效，包括：

统计所述第一闪存颗粒的擦写次数；

确定所述第一闪存颗粒的擦写次数是否大于等于第二预设门限值；

若确定所述第一闪存颗粒的擦写次数大于等于第二预设门限值，则确定所述第一闪存颗粒即将失效。

根据第一方面、第一方面的第一种或第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述固态硬盘包括至少两个闪存颗粒，每个闪存颗粒包括至少一个存储单元，所述方法还包括：

在至少两个所述存储单元之间建立RAID；

若判断所述第一闪存颗粒已经失效，则禁止向所述第一闪存颗粒写入数据，并通过包括所述第一闪存颗粒的存储单元的RAID中除所述第一闪存颗粒的存储单元之外的其他存储单元中存储的数据对所述第一闪存颗粒上的数据进行恢复。

根据第一方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，在所述通过包括所述第一闪存颗粒的存储单元的RAID中除所述第一闪存颗粒的存储单元之外的其他存储单元中存储的数据对所述第一闪存颗粒上的数据进行恢复之后，还包括：

将恢复后的数据迁移到所述第二闪存颗粒上。

第二方面，本发明实施例提供一种提高固态硬盘可靠性装置，包括：

判断模块，用于判断固态硬盘的第一闪存颗粒是否即将失效；

处理模块，用于若确定所述第一闪存颗粒即将失效，则禁止向所述第一闪存颗粒写入数据；

数据迁移模块，用于将所述第一闪存颗粒上的数据迁移到所述固态硬盘上的第二闪存颗粒上，所述第二闪存颗粒为所述固态硬盘的有效闪存颗粒。

在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述判断模块，具体用于统计所述第一闪存颗粒内处于异常状态的块的数目；确定所述第一闪存颗粒内处于异常状态的块的数目是否大于等于第一预设门限值；若确定所述第一闪存颗粒内处于异常状态的块的数目大于等于第一预设门限值，则确定所述第一闪存颗粒即将失效。