[发明专利]一种提高SRAM良率的补偿电路无效

专利信息
申请号: 201310723062.0 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN103745744A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 翁宇飞;李有忠;李二亮;张其笑;姜伟;胡玉青 申请(专利权)人: 苏州宽温电子科技有限公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 sram 补偿 电路
【权利要求书】:

1.一种提高SRAM良率的补偿电路,包括PMOS补偿电路,其特征在于,所述PMOS补偿电路的时序追踪位线DBL输出端与时序追踪位线DBL路径上靠近时序追踪单元Dummy Cell连接,所述时序追踪位线DBL路径的另一端连接时序控制电路FSM Logic,所述时序控制电路FSM Logic通过灵敏放大器使能信号路径SAEN与灵敏放大器SA连接,所述时序追踪单元Dummy Cell的另一端连接追踪字线DWL,所述追踪字线DWL与字线WL连接,所述字线WL上连接有n个存储单元且n=1,2,3,…,所述存储单元与列选择电路Column-Mux连接。

2.根据权利要求1所述的提高SRAM良率的补偿电路,其特征在于,所述PMOS补偿电路包括一个反相器INV和三个P型MOS管MP1、MP2和MP3,所述MP1和所述MP3串联,所述MP1和所述MP3的栅极都与所述反相器INV的输出端连接,所述MP3的漏极与所述MP2的栅极连接到所述时序追踪位线DBL上,所述MP2的漏极和所述MP3的源极连接。

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