[发明专利]基于静态杂波图的异物检测方法及异物检测设备

权利要求书

1.一种基于静态杂波图的异物检测方法，其特征在于，包括：

（1）获取初始静态杂波数据，按照不同的距离和方位计算每重下的初始静态杂波图；

（2）对多个所述初始静态杂波图进行二维配准、校正、滤波和三重重间配准后，得到每重下的最终的静态杂波图；

（3）获取扫描帧下的初始目标杂波图并经过二维配准、校正、滤波和三重重间配准后，形成当前扫描帧下的目标杂波图；

（4）根据FOD判别准则对比所述静态杂波图和所述目标杂波图，获得所述异物的位置信息。

2.如权利要求1所述的基于静态杂波图的异物检测方法，其特征在于，所述获取初始静态杂波数据包括：将二维平面划分为多个方位距离单元，将每个所述方位距离单元存储于存储器，且每个所述存储器均对应于一个所述方位距离单元。

3.如权利要求2所述的基于静态杂波图的异物检测方法，其特征在于，所述方位距离单元中包括方位信息和距离信息。

4.如权利要求1所述的基于静态杂波图的异物检测方法，其特征在于，所述多个初始静态杂波图为六个初始静态杂波图。

5.如权利要求1所述的基于静态杂波图的异物检测方法，其特征在于，对多个所述初始静态杂波图进行二维配准包括：对第一初始静态杂波图和第二初始静态杂波图进行二维FFT计算；对第一初始静态杂波图进行复共轭后与第二初始静态杂波图进行向量点对点的相乘；将相乘的结果做反二维FFT计算，而后求取最大点并记录坐标值，所述坐标值即为校正量；对所述初始静态杂波图进行校正包括：根据所述校正量对所述第二初始静态杂波图进行校正操作；而后对第一初始静态杂波图和校正后的第二初始静态杂波图进行滤波，得到第一静态杂波图；

而后，以该第一静态杂波图为基准，对第一静态杂波图和第三初始静态杂波图重复上述操作，直至多个所述初始静态杂波图均进行完所述二维配准、校正和滤波操作。

6.如权利要求5所述的基于静态杂波图的异物检测方法，其特征在于，所述二维FFT和所述反二维FFT均是用一维FFT与一维反FFT搭建而成。

7.一种异物检测设备，其特征在于，所述异物检测设备为应用上述权利要求1～5中任意一项所述的基于静态杂波图的异物检测方法的雷达。