[发明专利]一种测定天然气中硫化物总量的新方法在审

专利信息
申请号: 201310691130.X 申请日: 2013-12-13
公开(公告)号: CN104713944A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 王卫国;程沙沙;李海洋;彭丽英 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 刘阳
地址: 116023 *** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 测定 天然气 硫化物 总量 新方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测定天然气中硫化物总量的新方法,该方法以负离子模式的掺杂剂辅助光电离离子迁移谱为基本的检测技术,净化空气作载气和漂气,空气在掺杂剂辅助光电离电离源中发生光化学反应形成具有氧化性的试剂离子,将天然气中硫化物氧化成相同的高价硫化物,实现总硫含硫的测定。

背景技术

天然气中硫化物总量的高低是衡量天然气质量的指标之一。总硫作为一项特别重要的天然气质量控制参数,其测定数据的准确性显得尤为重要。含硫化合物对天然气的运输、贮存及使用安全会产生破坏性的影响,因此硫化物的含量是天然气检测必不可少的项目,准确测定其含量具有极其重要的意义。天然气中硫化物硫化物主要包括硫化氢(H2S),硫醚、硫醇等。

目前,对硫化物的测定方法主要有气相色谱法,气相色谱质谱法,液相色谱法,紫外-可见分光光度法,电子鼻以及传感器法。其中气相色谱由于其良好的分离能力以及定量准确性,在硫化物的测定中使用的最多。但是由于检测灵敏度的限制,通常需要采用浓缩预富集手段来满足物质检出限的要求,这样就增加了分析的复杂性和分析时间。

离子迁移谱(ion mobility spectrometry,IMS)技术主要通过气相离子迁移率来表征各种不同的化学物质,以达到对各种化学物质分析检测的目的。在弱电场(E/N<2Td,1Td=10-7Vcm2)的范围内,离子的运动速度正比于电场强度,ν=KE,这里ν为离子的迁移速率,E为电场强度,K为离子迁移率。离子的迁移率在低电场的范围内为常数,其数值主要取决于离子的结构、质量、电荷数等因数。对温度和压力进行校正即可得到离子的折合迁移率K0=K(P/101)(273/T)。IMS由于灵敏度高,检测速度快,结构简单,易于便携等优点,已经广泛应用于爆炸物、毒品以及环境污染物的检测当中。

发明内容

本发明涉及一种天然气中硫化物总量检测的新方法,其特征在于:以负离子模式的掺杂剂辅助光电离离子迁移谱为基本的检测技术,空气或者掺杂有氧气和CO2的N2和/或惰性气体作载气(3)和漂气(4),掺杂剂辅助光电离电离源中形成具有氧化性的试剂离子,将天然气中硫化物氧化成强电负性的高价硫化物,实现天然气中硫化物总硫含量的测定。

所述的检测技术为离子迁移谱技术。

所述的离子迁移谱以负离子模式的掺杂剂辅助光电离离子源为电离源。

所述掺杂剂辅助光电离由紫外光的设备(1)和掺杂剂发生器(2)组成。其中的紫外光设备包括真空紫外灯、二极管、氙灯、汞灯和紫外激光器。

所述的掺杂剂应具有电离能低,易挥发,毒性小以及光电离截面大特点,包括苯、甲苯、丙酮中的一种或几种。

所述的离子迁移谱的载气和漂气为经过活性炭、硅胶和分子筛过滤的空气或者掺杂有氧气和CO2的N2和/或惰性气体。

所述掺杂剂辅助光电离电离源中形成具有氧化性的试剂离子CO3-(H2O)n,将天然气中硫化物氧化成强电负性的高价硫化物,实现天然气中硫化物总硫含量的测定。

本发明的优点为:该方法能够实现天然气中硫化物总量的准确测定,和其他的检测方法相比,离子迁移谱的便携性可以实现天然气中硫化物现场、实时在线的监测。

附图说明

下面结合附图及实施例对本发明作进一步详细的说明:

图1掺杂剂辅助光电离离子迁移谱结构示意图。

其中,1-VUV紫外光源,2-掺杂剂发生器,3-载气,4-尾吹气,5-BN-grid离子门,6-净化空气源,7-法拉第盘,8-放大器和信号处理系统,9-出气口。

图2(a)为掺杂剂辅助光电离离子迁移谱中的背景谱图;图2(b)为掺杂剂辅助光电离离子迁移谱中硫化氢的测定谱图。

图3(a)乙二硫醇、(b)乙硫醇、(c)二乙硫醚和(d)二甲硫醚的掺杂剂辅助光电离离子迁移谱谱图。

具体实施方式

本发明涉及一种测定天然气中硫化物总量的新方法,以负离子模式的掺杂剂辅助光电离离子迁移谱为基本的检测技术,空气或者掺杂有氧气和CO2的N2和/或惰性气体作载气和漂气,掺杂剂辅助光电离电离源中形成具有氧化性的试剂离子,将天然气中硫化物氧化成强电负性的高价硫化物,实现天然气中硫化物总硫含硫的测定。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院大连化学物理研究所;,未经中国科学院大连化学物理研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310691130.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top