[发明专利]用于随机数产生的设备、方法和系统及图像传感器有效

专利信息
申请号: 201310680647.9 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN104113707B 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 多米尼克·马塞提;陈刚 申请(专利权)人: 豪威科技股份有限公司
主分类号: H04N5/335 分类号: H04N5/335;H04N5/357
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 齐杨
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 随机数 产生 设备 方法 系统 图像传感器
【权利要求书】:

1.一种用于随机数产生的设备,其包括:

一个或多个单元,其各自包含相应源极跟随器晶体管,其中所述一个或多个单元中的第一单元包含第一源极跟随器晶体管;

检测器模块,其耦合到所述一个或多个单元,所述检测器模块包含电路逻辑以从所述第一单元接收第一信号,且响应于所述第一信号的脉冲来指示对所述第一源极跟随器晶体管中的第一随机电报噪声事件的检测;

计数器模块,其耦合到所述检测器模块,所述计数器模块包含电路逻辑以响应于所述所指示的对所述第一随机电报噪声事件的检测而执行第一计数更新,且基于所述第一计数更新而传达与多个随机电报噪声事件对应的数;及

控制逻辑以使所述设备在第一模式与第二模式之间转变,所述第一模式用于产生与所述多个随机电报噪声事件对应的所述数,其中所述第二模式是用于用所述一个或多个单元捕获图像。

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一单元包含像素单元。

3.根据权利要求1所述的设备,其中所述控制逻辑将所述设备转变为所述第一模式,包含所述控制逻辑将所述第一源极跟随器晶体管的栅极端子转变到第一参考电压。

4.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一源极跟随器晶体管包含栅极氧化物,其中所述栅极氧化物的厚度小于或等于五纳米。

5.根据权利要求1所述的设备,其中所述一个或多个单元进一步包括包含第二源极跟随器晶体管的第二单元,所述检测器模块进一步指示对所述第二源极跟随器晶体管中的第二随机电报噪声事件的检测,且所述计数器模块进一步响应于所述所指示的对所述第二随机电报噪声事件的检测而执行第二计数更新,其中所述计数器模块进一步基于所述第二计数更新而传达所述数。

6.一种用于随机数产生的方法,其包括:

通过设备的检测器模块从所述设备的一个或多个单元中的第一单元接收第一信号,所述一个或多个单元各自包含相应源极跟随器晶体管;

响应于所述第一信号的脉冲,指示对所述第一单元的第一源极跟随器晶体管中的第一随机电报噪声事件的检测;

响应于所述所指示的对所述第一随机电报噪声事件的检测而在所述设备的计数器模块中执行第一计数更新;

基于所述第一计数更新,传达与多个随机电报噪声事件对应的数;及

使用控制逻辑使所述设备在第一模式与第二模式之间转变,所述第一模式用于产生与所述多个随机电报噪声事件对应的所述数,其中所述第二模式是用于用所述一个或多个单元捕获图像。

7.根据权利要求6所述的方法,其中在所述第一模式与所述第二模式之间转变包含转变到所述第一模式,包含降低所述第一源极跟随器晶体管的供应电压的电平。

8.根据权利要求6所述的方法,其中所述第一源极跟随器晶体管包含通道,其中所述通道的总面积小于或等于一微米。

9.根据权利要求6所述的方法,其中所述一个或多个单元进一步包括包含第二源极跟随器晶体管的第二单元,所述方法进一步包括:

指示对所述第二源极跟随器晶体管中的第二随机电报噪声事件的检测;及

响应于所述所指示的对所述第二随机电报噪声事件的检测而执行第二计数更新,其中传达所述数是进一步基于所述第二计数更新。

10.根据权利要求9所述的方法,其中第一计数是通过所述第一计数更新而更新,且第二计数是通过所述第二计数更新而更新。

11.一种图像传感器,其包括:

包含一个或多个像素单元的像素阵列,所述像素单元各自包括相应源极跟随器晶体管,其中所述一个或多个像素单元中的第一像素单元包含第一源极跟随器晶体管;

检测器模块,其耦合到所述一个或多个像素单元,所述检测器模块包含电路逻辑以从所述第一像素单元接收第一信号,且响应于所述第一信号的脉冲来指示对所述第一源极跟随器晶体管中的第一随机电报噪声事件的检测;

计数器模块,其耦合到所述检测器模块,所述计数器模块包含电路逻辑以响应于所述所指示的对所述第一随机电报噪声事件的检测而执行第一计数更新,且基于所述第一计数更新而传达与多个随机电报噪声事件对应的数;及

控制逻辑以使所述图像传感器在第一模式与第二模式之间转变,所述第一模式用于产生与所述多个随机电报噪声事件对应的所述数,所述第二模式用于用所述一个或多个像素单元捕获图像。

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