[发明专利]一种岩石地层多点位移激光测量方法及装置

权利要求书

1.一种岩石地层多点位移激光测量方法，其特征在于，该方法利用激光测量岩石地层多点位移或变形，在小口径钻孔孔壁的不同深度和不同方位角度的测量点处粘贴反光片，在孔口安装孔口定位盘，在孔口定位盘上安装激光发射器，通过激光发射器可测量出激光发射器到反光片、孔底基准点的距离，用激光发射器到孔底基准点的距离减去激光发射器到反光片的距离可得到反光片到孔底基准点的距离，每隔一定时间测量记录一次该距离，对比得出前后两次或多次的距离差值即得所求位移或变形。

2.根据权利要求1所述的一种岩石地层多点位移激光测量方法，其特征在于，每隔一天测量记录一次反光片到孔底基准点的距离。

3.根据权利要求1所述的一种岩石地层多点位移激光测量方法，其特征在于，所述的小口径钻孔的孔径小于100mm。

4.一种岩石地层多点位移激光测量装置，其特征在于，该装置包括反光片、孔口定位盘及激光发射器，

所述的反光片根据设计要求粘结在在钻孔的不同深度和不同方位角度处，

所述的孔口定位盘由刻度盘和转动盘组成，所述的刻度盘固定于孔口岩壁，所述的转动盘可绕钻孔中轴线在刻度盘平面上转动，

所述的激光发射器在使用时安装在孔口定位盘上，使用完毕可卸下随身携带以用于下一钻孔的测量。

5.根据权利要求4所述的一种岩石地层多点位移激光测量装置，其特征在于，所述的激光发射器可发射激光、捕捉反射回来的激光并附加计算显示距离功能。

6.根据权利要求4或5所述的一种岩石地层多点位移激光测量装置，其特征在于，所述的激光发射器可以设有数个，同时对不同的测点进行测量。

7.根据权利要求4所述的一种岩石地层多点位移激光测量装置，其特征在于，所述的转动盘可以自动化驱动或机械驱动。

8.根据权利要求4所述的一种岩石地层多点位移激光测量装置，其特征在于，所述的反光片设有数个，粘结在在钻孔的不同深度和不同方位角度处，一次可完成不同深度的多个测点的测量。

9.根据权利要求4所述的一种岩石地层多点位移激光测量装置，其特征在于，所述的刻度盘的0刻度与作为基准的反光片对齐，记录基准反光片以外的反光片与基准的反光片的环向夹角，将转动盘转动相应的角度即可测量对应的其它反光片及孔底基准点。