[发明专利]用于织物弯曲与摩擦及遮光与厚度的组合测量装置与方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种织物的弯曲和摩擦、以及厚度和遮光性能的组合测量装置与方法，属于纺织精密计量仪器技术领域。

背景技术

织物的遮光性、厚度不匀、弯曲性能和摩擦性能不仅影响织物的质量和手感风格，而且影响织物的穿着使用和外观造型、美感和穿着舒适安全性。因此，对织物的遮光性、厚度不匀、弯曲性能和摩擦性能的测量和定量化表征，具有重要的实际意义。

目前，国内外测量织物上述性能的仪器主要采取单机单测单指标为主。就织物的遮光性而言，往往采用透光指标表达，透光越小，遮光性越好。对于织物的透光率的测试仪器主要有：照度计(许艳.照度计的特性及测量误差的定量评价.现代测量技术，2002，3.)，是将光能转换成电能，测量通过单位面积的光照强度，不过该仪器只是光度、亮度的透光测量；织物透光性测试仪器(刘海波，王正伟，李汝勤.织物透过性测试及仪器的研究.上海纺织科技，1999，10.)，通过光敏电池测试透过织物的光量，表征织物的透光性能，不过该仪器采用卤素灯作为光源，光线的平行性较差，易产生多方向的反射光线，影响测试准确性。织物的厚度不匀的测试方法主要有电阻式、电容式、电感式、超声波式、激光式、射线式等传感器为厚度检测原理的测试仪，这些仪器局限于织物厚度不匀单个性能的测试。织物的弯曲性能和摩擦性能的测试仪器主要是KES织物风格仪和FAST织物风格仪，均是多台多测多指标的测试仪器，不但仪器昂贵，而且测试过程复杂，每台仪器仅仅测试一项性能，其本质还是单测单指标仪器，此外国产的YG821织物风格仪，测试织物弯曲性能和摩擦性能时需要分别更换部件来完成，操作复杂，不能完成连续的测量；CHES-FY和PhabrOmeter虽然能同时对弯曲和摩擦进行表征，但只限于对织物力学性能的测试，不能同时测试织物的透光率和厚度均匀性，不能对织物的质量进行全面的评价。

上述实验仪器和方法适于织物的单项性能或多项力学性能的分离测试，而对织物多项性能的测试过程繁琐，操作复杂，不能在同一台仪器上完成织物透光率、厚度不匀、弯曲性能和摩擦性能的全部测量。然而在实际中，需要这些性能的原位组合测量，便于研究和分析织物的综合性能特征。

因此，从实用和理论研究中，都有必要研究和开发能实现织物透光率、厚度不匀、弯曲性能和摩擦性能的原位组合测量装置和方法。这样的装置既能减少仪器占地面、降低成本、节约实验试样、简化实验操作，从而提高检测效率，又能实施同样的单次测量，避免了更换试样和更换测量仪器而造成的系统误差和操作误差，提高测量的精确性和稳定性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于织物弯曲与摩擦及遮光与厚度不匀的组合测量装置与方法，解决传统织物的上述性能与结构因分离测量而造成织物综合品质指标的表征误差，可对织物的厚度不匀、遮光性、弯曲和摩擦性能实施客观、快速的测量。

为了达到上述目的，本发明的一个技术方案是提供了一种用于织物弯曲与摩擦及遮光与厚度不匀的组合测量装置，包括固定在底板上的输送机构、透光测量机构、厚度测量机构、力测量机构和牵引卷绕机构，其特征在于：

织物出输送机构后进入透光测量机构，该透光测量机构包括固定在底板上的用于防止光线入射进来的暗箱，在暗箱两侧分别设有处于随意平衡态的第一托辊和第二托辊，织物绕经第一托辊后进入暗箱，出暗箱后绕经第二托辊出透光测量机构，在暗箱内设有平行光源及光敏元件，平行光源位于光敏元件的对侧，织物由平行光源与光敏元件之间通过；

织物出透光测量机构后进入厚度测量机构，该厚度测量机构包括至少一对用于感应通过的织物的厚度以获得织物的厚度不匀值的电容极板和第三托辊，织物由电容极板间穿过后绕经第三托辊出厚度测量机构进入力测量机构；