[发明专利]光栅编码器校验系统及方法在审
| 申请号： | 201310643095.4 | 申请日： | 2013-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN104697563A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 殷天明;王艳;程鹏飞 | 申请（专利权）人： | 北京通大华泉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 100085 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光栅 编码器 校验 系统 方法 | ||
1.一种光栅编码器校验系统，包括：
光栅编码器，用于根据输出3路三相位置信号的高低电平及1路速度信号；
微控制器，用于计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数，以及所述三相位置信号所包含的速度脉冲数，并将上述数据发送给上位机；
上位机，用于接收所述数据，并根据所述数据判断所述光栅编码器是否正常。
2.根据权利要求1所述的校验系统，其特征在于：
所述上位机根据所述数据计算三相位置信号的高低电平之间的相位差角度θ、位置脉冲高电平对应的角度α，及位置脉冲低电平对应的角度β。
3.根据权利要求2所述的校验系统，其特征在于：
。
4.根据权利要求3所述的校验系统，其特征在于：
所述上位机判断三相位置信号的高低电平对应的角度与理想值之间的差值是否在误差范围内；
判断三相相位差角度θ与理想值之间的差值是否在误差范围内；
判断速度脉冲个数是否与理想值之间的差值是否在误差范围内；
若不满足上述条件之一，则所述光栅编码器不满足要求。
5.一种校验光栅编码器的方法，包括：
计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数；
计所述三相位置信号的高低电平所包含的速度脉冲数；
根据所述数据计算三相位置信号的高低电平之间的相位差角度θ、位置脉冲高电平对应的角度α，及位置脉冲低电平对应的角度β；
判断θ、α、β与理想值之间的差值是否在误差范围内。
6.根据权利要求5所述的校验方法，其特征在于：
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