[发明专利]充电控制电路的校准方法和校准电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种充电控制电路的校准方法和校准电路。

背景技术

现代电子产品日趋便携化、智能化，因此也对它们的供电电池提出了轻便、高效的要求。充电电池是充电次数有限的可充电的电池，具有经济和环保等优点，锂离子电池因其优异的性能正逐渐成为现代电子产品的标准电池。

电子设备通常设置有充电电路，用来管理适配器和充电电池之间的充电。如图1所示，现有充电电路包括：充电控制电路1、第一PMOS晶体管MP1、第二PMOS晶体管MP2和采样电阻Rs。

充电控制电路1包括：电流电压控制端C1、防倒灌控制端C2、电压采样端S1和电流采样端S2和电压调节端IN。

第一PMOS晶体管MP1的源极连接第一PMOS晶体管MP1的衬底并适于输入充电电压VBUS。第一PMOS晶体管MP1的栅极连接电流电压控制端C1。第一PMOS晶体管MP1的漏极连接第二PMOS晶体管MP2的漏极。

第二PMOS晶体管MP2的源极连接第二PMOS晶体管MP2的衬底、采样电阻Rs的第一端和电流采样端S2。第二PMOS晶体管MP2的栅极连接防倒灌控制端C2。采样电阻Rs的第二端连接电压采样端S1和电池。

如图2所示，充电控制电路1还包括：防倒灌控制电路11、电流控制环路12、电压控制环路13、第一电阻R1和第二电阻R2。

防倒灌控制电路11连接防倒灌控制端C2。电流控制环路12的第一输入端连接电流采样端S2，电流控制环路12的第二输入端连接电压采样端S1和第一电阻R1的第一端。

电流控制环路12的输出端连接电流电压控制端C1。

电压控制环路13的第一输入端适于输入基准电压Vref，电压控制环路13的第二输入端连接第一电阻R1的第二端和第二电阻R2的第一端，电压控制环路13的输出端连接电流电压控制端C1。第二电阻R2的第二端接地。

基准电压Vref一般由带隙基准源（bandgap）提供，带隙基准源输出的基准电压Vref的电压值在1.2V±5%，但是，充电控制电路1与电池连接节点的电压Vs应该在4.2V±1%，基准电压Vref的波动范围过大。

为了校准充电控制电路1与电池连接节点的电压Vs，现有技术通过电压调节端IN输入测试数据，第二电阻R2的电阻值可以根据电压调节端IN输入的测试数据而变化，不同电阻值的第二电阻R2使得输出电压Vs的电压值也发生变化。测量充电控制电路1与电池连接节点的电压Vs，当充电控制电路1与电池连接节点的电压Vs为4.2V±1%时，将此时电压调节端IN输入的测试数据作为校准数据保存在充电控制电路1的存储器中。充电电路正常工作时，使用经过测试得到的校准数据来校正充电控制电路1与电池连接节点的电压Vs。

但是，充电电路中的第一PMOS晶体管MP1和第二PMOS晶体管MP2也需要参与上述电控制电路1的测试，即充电电路也是充电控制电路1的校准电路，这导致充电电路正常工作所需的第一PMOS晶体管MP1和第二PMOS晶体管MP2经常在测试阶段就被损坏，或者使用寿命明显缩短。

发明内容

本发明解决的问题是现有充电电路中的晶体管容易损坏。

为解决上述问题，本发明提供一种充电控制电路的校准方法，所述充电控制电路适于输入充电电压，所述充电控制电路包括：电流电压控制端、电压调节端和电压采样端，所述校准方法包括：

施加目标电压至所述电压采样端；

通过所述电压调节端依次输入N个测试数据，N≥2，第n个测试数据大于第n-1个测试数据，N≥n≥2；

测量所述电流电压控制端的检测电压以获得每个测试数据对应的检测电压；

将突变测试电压对应的测试数据作为所述充电控制电路的校准数据，所述突变测试电压为检测电压中的第一个电压值小于或等于电压阈值的检测电压，所述电压阈值为所述充电电压的电压值的一半。

可选的，所述测试数据为二进制数据，所述二进制数据的最小值为第1个测试数据，所述第n个测试数据和第n-1个测试数据的差值为1。

本发明还提供一种充电控制电路的校准方法，所述充电控制电路适于输入充电电压，所述充电控制电路包括：电流电压控制端、电压调节端和电压采样端，所述校准方法包括：

施加目标电压至所述电压采样端；

通过所述电压调节端依次输入N个测试数据，N≥2，第n个测试数据小于第n-1个测试数据，N≥n≥2；

测量所述电流电压控制端的检测电压以获得每个测试数据对应的检测电压；