[发明专利]LED测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种方法及系统，特别是指一种用于测试LED的测试方法及系统。 

背景技术

市场上兜售的产品在进入市场之前，均会对其进行大量的测试，以保障产品的质量。如，一LED，在进入市场前，测试人员通过会将LED插接在一电路板上，然后根据LED闪烁或正常亮灯的情况来认为的判断所述LED是否正常。然而，人为的判断使得测试结果往往不够准确，且人为的判断效率低下，人力成本也极其高。 

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种可方便测试LED的测试方法及系统。 

一种LED测试方法，包括以下步骤：连接一测试装置与一待测LED；连接一感应器至所述测试装置上；吸附所述感应器的一探测头至所述待测LED上；感应所述待测LED的状态；根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常。 

进一步地，所述测试装置与所述待测LED通过一连接器连接。 

进一步地，所述感应器为一光敏感应器。 

进一步地，在步骤根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常之后，还包括步骤：根据所述感应器感应到的待测LED的状态为闪烁时记录待测LED闪烁的次数，并在记录到的待测LED闪烁的次数超过一预设闪烁次数值时分析出所述待测LED不正常。 

进一步地，步骤根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常之后，还包括步骤：根据所述感应器感应到的待测LED的状态为常亮时分析出所述待测LED正常，并在所述待测LED正常时记录所述待测LED的波长信息。 

一种LED测试系统，包括：一测试装置与一待测LED连接；一感应器与所述测试装置连接；所述感应器的一探测头吸附至所述待测LED上；所述感应器感应所述待测LED的状态；所述测试装置中的一分析模组根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常。 

进一步地，所述测试装置与所述待测LED通过一连接器连接。 

进一步地，所述感应器为一光敏感应器。 

进一步地，所述测试装置中的一记录模组根据所述感应器感应到的待测LED的状态为闪烁时记录待测LED闪烁的次数，所述分析模组在所述记录模组记录到的待测LED闪烁的次数超过一预设闪烁次数值时分析出所述待测LED不正常。 

进一步地，所述分析模组根据所述感应器感应到的待测LED的状态为常亮时分析出所述待测LED正常，所述记录模组在所述分析模组分析出所述待测LED正常时记录所述待测LED的波长信息。 

相较于现有技术，在上述LED测试方法及LED测试系统中，所述感应器感应到所述待测LED的状态后将其发送至测试装置的分析模组中，所述分析模组即可分析出所述待测LED是否正常。这样，无需人工对待测LED进行判断，方便快捷又节约成本。 

附图说明

图1是本发明LED测试系统的一较佳实施方式的一结构示意图。 

图2是本发明LED测试方法的一较佳实施方式的一流程图。