[发明专利]应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统在审
| 申请号： | 201310611508.0 | 申请日： | 2013-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN104678330A | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 余德良;魏彦玲;刘亮;陈文锦 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 应用于 马克 装置 高精度 磁场 倾斜角 测量 系统 | ||
【权利要求书】：
1.应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统，它包括4个光学准直透镜（5）、4个偏振片（4）、光纤（6）、光谱仪（7）、CCD相机（8）和数据采集控制系统（9），其特征在于：4个光学准直透镜（5）通过光纤（6）连接光谱仪（7），光谱仪（7）与CCD相机（8）连接，CCD相机（8）与数据采集控制系统（9）连接，每个光学准直透镜（5）前设置有一个偏振片（4）。
2.如权利要求1所述的应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统，其特征在于：CCD相机（8）采用的最低输入光功率为0.1nW。
3.如权利要求1所述的应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统，其特征在于：四个偏振片的透振方向与水平方向的夹角分别为0、π/4、π/2以及3π/4。
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