[发明专利]一种荧光粉性能测试系统以及测试方法

权利要求书

1.一种荧光粉性能测试系统，其特征是，包括：

真空样品室，真空样品室中设有测试平台，测试平台包括样品支架和阴极支架，样品支架上设有可安装样品片的样品托板，阴极支架上设有可安装FED阴极片的阴极片托板；所述样品片上设有样品测试区，FED阴极片上设有阴极测试区，样品测试区位于阴极测试区的上方； 

抽气装置，包括连接真空样品室以将真空样品室抽真空的抽气管；

高压电源，包括电源输出端，电源输出端包括可分别连通样品测试区和阴极测试区的高电位端和低电位端；

激励源，其输出激励信号作用于样品测试区，使得样品片上的待测荧光粉发光；

单色仪和采集光纤，采集光纤贯穿真空样品室外壁，一端朝向样品测试区，另一端连接单色仪的入光口；且采集光纤外壁与真空样品室外壁为密封连接；

单光子计数器，包括信号输出端和连接单色仪出光口的光信号输入端； 

数据处理器，单光子计数器的信号输出端连接处理器，以将信号数据传输至处理器。

2.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述阴极支架还包括阴极支撑杆，阴极支撑杆动密封贯穿入真空样品室；阴极片托板通过直线导轨连接阴极支撑架，垂直于阴极支撑杆安装。

3.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述激励源为真空紫外光源，真空紫外光源的输出光线投射至样品测试区。

4.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述激励源为电子枪，电子枪输出的电子束投射至样品测试区；电子枪包括激励电源，激励电源的高电位端连通样品测试区。

5.根据权利要求1至4任一项所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述采集光纤由真空光纤和普通光纤组成，真空光纤法兰密封连接于真空样品室外壁上；且真空光纤的一端朝向样品测试区，另一端连接普通光纤，普通光纤的另一端连接单色仪的入光口。

6.根据权利要求1至4任一项所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述测试平台还包括主支架和设置于主支架上的电源静触点支架；样品支架还包括支撑杆，样品托板垂直安装于支撑杆顶端；

电源静触点支架的顶端设有电源静触点，高压电源的电源输出端连接电源静触点；样品托板上设有连通样品测试区的电源动触点；支撑杆动密封贯穿入真空样品室，并转动连接主支架；支撑杆的转动带动样品托板的转动，使得电源动触点与电源静触点在接通和断开状态之间切换。

7.根据权利要求6所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，样品托板为圆形，样品托板的中心连接支撑杆，样品托板上设有2个以上绕样品托板中心呈圆周排列的样品测试区；各样品测试区分别连通有一个电源动触点。

8.基于权利要求1至7任一项所述的荧光粉性能测试系统的测试方法，其特征是，包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状透明的材料作为样品载体，在样品载体的一面沉积透明导电膜，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上的透明导电膜之上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；荧光粉覆盖有透明导电膜的区域可作为样品测试区；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架和阴极支架，使得样品测试区与FED阴极片的阴极测试区上下相对；将高压电源的低电位端连通阴极测试区，高电位端连通样品测试区； 

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动高压电源，使得样品片上的待测荧光粉发光；调节样品测试区与阴极测试区之间的间距进行对应待测荧光粉电流特性的测试；调节高压电源的输出电压进行对应待测荧光分电压特性的测试；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。