[发明专利]基于光模块中故障的处理方法和装置及光模块

说明书

技术领域

本发明涉及光通信技术，尤其涉及一种基于光模块中故障的处理方法和装置及光模块。

背景技术

目前，光模块一般由光电子器件、功能电路和光接口等组成；其中，光电子器件包括发射单元和接收单元。发射单元接收输入的电信号，并将该电信号经其内部的驱动芯片处理后，驱动半导体激光器或发光二极管发射出相应速率的调制光信号。接收单元接收光信号后，由光探测二极管将其转换为电信号，经前置放大器后输出相应的电信号。

当电磁干扰（Electro Magnetic Interference；简称：EMI）/电磁兼容（Electromagnetic Compatibility；简称：EMC）辐射干扰、上电初始化时序短暂冲突或者信号短暂冲突，特别是通信系统上电初始化阶段，偶然会有突发的干扰源存在时，干扰或者时序冲突叠加到发射单元的驱动芯片内部，就会引起模拟电路部分电流或者电压增大，超过该驱动芯片设置的门限，从而触发驱动芯片的fault功能，即驱动芯片中的fault寄存器由低电平变成高电平，进而导致驱动芯片中的fault管脚变成高电平以及驱动芯片的关闭，即使得发射单元关闭，并导致了接收单元在没有接收到任何信号而产生告警，使得整个通信系统中断。

而这其中，由于可承受的短暂异常会同样导致通信的中断，因此造成通信系统中断频繁。

发明内容

本发明提供一种基于光模块中故障的处理方法和装置及光模块，用于降低通信系统频繁中断的问题。

本发明的第一个方面是提供一种基于光模块中故障的处理方法，其中，所述方法应用于光模块，所述光模块包括MCU和驱动芯片，且所述MCU与所述驱动芯片相连接，所述方法包括：

所述MCU读取所述驱动芯片的检测结果；

若连续的N个所述检测结果中故障状态的次数小于预设次数，则所述MCU将所述检测结果的故障状态清除并设置为非故障状态；

其中，N为正整数，且大于1。

本发明的另一个方面是提供一种基于光模块中故障的处理装置，其中，所述装置设置在光模块中，并与所述光模块中的驱动芯片相连接，则所述装置包括：

读取单元，用于读取所述驱动芯片的检测结果；

判断单元，用于判断连续的N个所述检测结果中故障状态的次数是否小于预设次数；

清除单元，用于所述判断单元若判断出连续的N个所述检测结果中故障状态的次数小于预设次数，则将所述检测结果的故障状态清除并设置为非故障状态；

其中，N为正整数，且大于1。

本发明的又一个方面是提供一种光模块，其中，包括：驱动芯片和如上述所述的基于光模块中故障的处理装置；其中，所述驱动芯片与所述基于光模块中故障的处理装置相连接。

本发明的技术效果是：通过MCU读取驱动芯片的检测结果，若连续的N个检测结果中故障状态的次数小于预设次数，则将检测结果的故障状态清除并设置为非故障状态，由于可以根据获取的连续N个检测结果中故障状态的次数来判断故障是短暂不合理的还是持续合理的，并在故障是短暂的情况时，将检测结果的故障状态清除并设置为非故障状态，以保证光模块正常工作，因此降低了由于短暂异常而导致通信系统频繁中断的问题，从而有效地提高了光模块和通信系统的健壮性和可靠性，保证了通信质量。

附图说明

图1为本发明基于光模块中故障的处理方法的一个实施例的流程图；

图2为现有技术中光模块中故障时所基于的电路结构图；

图3为本发明基于光模块中故障的处理方法所基于的电路结构图；

图4为本发明基于光模块中故障的处理方法的另一个实施例的流程图；

图5为本发明基于光模块中故障的处理装置的一个实施例的结构示意图；

图6为本发明基于光模块中故障的处理装置的另一个实施例的结构示意图；

图7为本发明光模块的一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

图1为本发明基于光模块中故障的处理方法的一个实施例的流程图，如图1所示，该方法应用于光模块，该光模块包括微控制单元（Micro Control Unit；简称：MCU）和驱动芯片，该MCU与该驱动芯片相连接。另外，该方法的执行主体为MCU，则该方法包括：

步骤101、MCU读取该驱动芯片的检测结果。

在本实施例中，优选地，MCU可以采用轮询的方式，即每隔预定时间读取该驱动芯片的检测结果。