[发明专利]一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的方法及装置在审
| 申请号: | 201310597450.9 | 申请日: | 2013-11-22 |
| 公开(公告)号: | CN103645136A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
| 发明(设计)人: | 郑炜;杨守胜;许强 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/64;G02B21/00 |
| 代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 提高 光子 荧光显微镜 成像 分辨率 方法 装置 | ||
1.一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的方法,其特征在于,所述方法包括:
通过显微镜对样本进行多次扫描,获取扫描得到的多幅图像的数据,并根据获取得到的所述多幅图像数据,获取样本目标点在多幅图像中像素点信号强度;
根据获取得到的所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度,计算经过对所述多幅图像的数据处理得到的重构图像中样本目标点的信号强度。
2.如权利要求1所述的一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的方法,其特征在于,所述重构图像中样本目标点的信号强度为获取到的所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度的叠加之和。
3.如权利要求1所述的一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的方法,其特征在于,所述通过显微镜对样本进行多次扫描,获取扫描得到的多幅图像的数据包括:
通过面阵列光电探测器接收所述扫描得到的多幅图像的数据。
4.如权利要求3所述的一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的装置,其特征在于,所述样本目标点位置所述面阵列光电探测器上像素点位置其中j,k,p,q为正整数,δr为扫描间距,δs为面阵列光电探测器上像素间距与成像系统放大倍数的比值,若所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度表示为I(rjk-spq,spq+rjk),则所述重构图像中样本目标点的信号强度Ieff(rjk)表示为Ieff(rjk)=Σp,qI(rjk-spq,spq+rjk)。
5.一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的装置,其特征在于,所述装置包括:
图像数据获取模块,用于通过显微镜对样本进行多次扫描,获取扫描得到的多幅图像的数据,并根据获取得到的所述多幅图像数据,获取样本目标点在多幅图像中像素点信号强度;
信号强度计算模块,用于根据获取得到的所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度,计算经过对所述多幅图像的数据处理得到的重构图像中样本目标点的信号强度。
6.如权利要求5所述的一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的装置,其特征在于,所述重构图像中样本目标点的信号强度为获取到的所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度的叠加之和。
7.如权利要求6所述的一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的装置,其特征在于,所述图像数据获取模块包括:
图像数据接收单元,用于通过面阵列光电探测器接收所述扫描得到的多幅图像的数据。
8.如权利要求7所述的一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的装置,其特征在于,所述样本目标点位置所述面阵列光电探测器上像素点位置其中,j,k,p,q为正整数,δr为扫描间距,δs为面阵列光电探测器上像素间距与成像系统放大倍数的比值,若所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度表示为I(rjk-spq,spq+rjk),则所述重构图像中样本目标点的信号强度Ieff(rjk)表示为Ieff(rjk)=Σp,qI(rjk-spq,spq+rjk)。
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