[发明专利]一种变压器套管剩余寿命检测装置及方法有效
申请号: | 201310577616.0 | 申请日: | 2013-11-16 |
公开(公告)号: | CN103558482A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 滕云;李勇;回茜;霍腾宇;李岩 | 申请(专利权)人: | 沈阳工业大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 沈阳东大专利代理有限公司 21109 | 代理人: | 梁焱 |
地址: | 110870 辽宁省沈*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 变压器 套管 剩余 寿命 检测 装置 方法 | ||
1.一种变压器套管剩余寿命检测装置,其特征在于:
包括:传感器:用于采集经过变压器套管的电流、变压器绝缘支撑的污秽度、变压器绝缘支撑所处环境的温度和湿度;
数据采集芯片:用于将传感器采集到的模拟信号转换为数字信号,提供给中央处理器;
触发器:用于对中央处理器输出的信号进行二倍频,作为数据采集芯片的脉冲源信号;
中央处理器:用于根据数据采集芯片的输出信号,确定变压器套管剩余寿命;
通信模块:用于将中央处理器输出的数据传递给计算机;
计算机:用于接受通信模块的数据,对变压器套管剩余寿命与实际的额定寿命进行比较,提供继续使用或维修信息给维修人员。
2.根据权利要求1所述的变压器套管剩余寿命检测装置,其特征在于:
所述的传感器采集经过变压器套管的电流、变压器绝缘支撑的污秽度、变压器绝缘支撑所处环境的温度和湿度传递给数据采集芯片,数据采集芯片进行模数转换后传递给中央处理器,中央处理器计算变压器套管剩余寿命,并将结果传递给计算机。
3.根据权利要求1所述的变压器套管剩余寿命检测装置,其特征在于:所述的数据采集芯片的时钟脉冲由触发器提供。
4.根据权利要求1所述的变压器套管剩余寿命检测装置,其特征在于:在所述的传感器与中央处理器之间还设置有滤波电路,该滤波电路主要由电感、电容和放大器组成,放大器的正向输入端连接第二电感一端、第七电感一端,第七电感的另一端接电源,第二电感的另一端接地;放大器的反相输入端连接第一电感的一端和第五电感的一端,第一电感的另一端连接放大器的输出端,放大器的输出端连接第四电感的一端,第五电感的另一端连接第三电感的一端和第六电感的一端,第三电感的另一端连接第一电容的一端,第一电容的另一端连接第四电感的另一端和中央处理器。
5.一种变压器套管剩余寿命检测方法,采用变压器套管剩余寿命检测装置实现,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:采集经过变压器套管的电流、变压器绝缘支撑的污秽度、变压器绝缘支撑所处环境的温度和湿度;
步骤2:预测变压器套管的寿命,具体为:
步骤2.1:对步骤1采集的数据进行归一化处理,使各数据具有相同的量纲,公式为:
式中,xi表示第i个无量纲输入数据,xi(t)表示t时刻采集的数据,i表示输入量的个数,且有i=1,2,...,m,其中,m为正整数,t表示时间;
步骤2.2:建立神经网络模型,来预变压器套管的寿命,具体为:
(1)首先要建立三层神经网络模型,包括输入层,神经网络中间层和输出层;
输入层输入的数据为:变压器套管的污秽度,经过变压器套管的电流,变压器套管所处环境的温度和湿度;
输出层输出为:变压器套管的寿命;
(2)计算神经网络的权值和阈值,过程为:
A:确定中间层的输出,公式为:
式中,r表示节点个数,且有r=1,2,...n2,n2为正整数;wir为输入层的第i个节点与中间层的第r个节点的连接权值;θr为中间层的第r个节点的阈值;f(·)选用S型函数;
B:确定输出层节点的输出值,公式为:
式中,y为输出层的输出,即变压器绝缘支撑的寿命;为中间层的第r个节点与输出层的节点的连接权值;Θ1为输出层的节点的阈值;f(·)选用S型函数;
C:输入历史数据,计算输出层节点输出y与期望输出值y′的输出层误差,公式为:
d1=y(1-y)(y′-y) (4)
判断d1是否为0,若为0,则结束;否则,执行D;
D:调整中间与输出层节点连接权值及输出层节点阀值Θ1,即
式中Θ1′分别为调整之后的权值和阈值;
E:在利用误差d1求得中间层误差再求得输入层和中间层的权值和阈值,公式如下:
wir=wir+erxi
θr′=θr+er
式中,wir′,θr′分别为调整之后的权值和阈值;
返回C,直至输出y与期望值之间误差为0,停止;确定输入层与中间层之间的权值和阈值,中间层与输出层之间的权值和阈值;
步骤3:将步骤2预测的使用寿命与实际的额定寿命进行比较,维修人员根据结果继续使用或进行维修。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳工业大学,未经沈阳工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310577616.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。