[发明专利]X射线成像设备和控制所述设备的方法

权利要求书

1.一种X射线成像设备，包括：

X射线产生器，产生和发射X射线；

X射线检测器，检测发射的X射线并获得X射线数据；

控制器，将通过X射线检测器检测X射线获得的测量数据和通过仿真获得的参考数据转换为作为预定空间上的坐标的X射线特性坐标，并从参考数据和测量数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。

2.如权利要求1所述的X射线成像设备，其中，测量数据包括通过执行以下操作获得的X射线数据，以下操作包括：将影响X射线检测器的响应特性的响应特性参数设置为预定义的值，通过X射线产生器将X射线放射到X射线模型，以及通过X射线检测器检测穿过了X射线模型的X射线。

3.如权利要求1所述的X射线成像设备，其中，参考数据包括使用与在获得测量数据期间设置的响应特性参数相同的响应特性参数通过仿真而获得的X射线数据。

4.如权利要求3所述的X射线成像设备，其中，响应特性参数被设置为不同的值，并且测量数据和参考数据被获得多次。

5.如权利要求3所述的X射线成像设备，其中，响应特性参数包括X射线产生器的管电压、在X射线检测器的检测单元的两端之间施加的电压和由X射线产生器发射的X射线的光谱长度中的至少一个。

6.如权利要求1所述的X射线成像设备，其中，控制器使用估计的响应特性函数校正关于目标对象的X射线数据。

7.如权利要求6所述的X射线成像设备，其中，控制器将关于目标对象的X射线数据转换为X射线特性坐标，并使用估计的响应特性函数校正X射线特性坐标。

8.如权利要求7所述的X射线成像设备，其中，控制器从估计的响应特性函数计算响应特性逆函数，并将响应特性逆函数应用于转换的X射线特性坐标。

9.如权利要求8所述的X射线成像设备，其中，控制器将校正的X射线特性坐标逆转换为X射线数据，并使用X射线数据产生X射线图像。

10.一种控制X射线成像设备的方法，所述方法包括：

在相同的响应特性参数条件下获得测量数据和参考数据；

将测量数据和参考数据中的每一个转换为作为预定空间上的坐标的X射线特性坐标；

从测量数据和参考数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。

11.如权利要求10所述的方法，其中，获得测量数据和参考数据的操作包括：

将响应特性参数设置为特定值并将X射线放射到X射线模型；

检测穿过了X射线模型的X射线以获得X射线数据。

12.如权利要求11所述的方法，其中，获得测量数据和参考数据的操作包括：将响应特性参数设置为不同的值并获得测量数据多次。

13.如权利要求11所述的方法，其中，获得测量数据和参考数据的操作包括：使用与在获得测量数据期间设置的响应特性参数相同的响应特性参数通过仿真来获得X射线数据。

14.如权利要求11所述的方法，其中，响应特性参数包括X射线产生器的管电压、在X射线检测器的检测单元的两端之间施加的电压和由X射线产生器发射的X射线的光谱长度中的至少一个。

15.如权利要求10所述的方法，还包括：使用估计的响应特性函数校正关于目标对象的X射线数据。

16.如权利要求15所述的方法，其中，校正X射线数据的操作包括：获得关于目标对象的X射线数据并将X射线数据转换为X射线特性坐标。

17.如权利要求16所述的方法，其中，校正X射线数据的操作包括：计算作为估计的响应特性函数的逆函数的响应特性逆函数。

18.如权利要求17所述的方法，其中，校正X射线数据的操作包括：将响应特性逆函数应用于从X射线数据转换的X射线特性坐标。