[发明专利]一种芯棒的测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯棒测试领域，尤其是涉及一种芯棒的测试方法及装置。

背景技术

目前，世界上制造光纤预制棒的工艺一般都采用“两步法”(Two-step Processes)，即包括各种芯棒制造技术(OVD、VAD、MCVD、PCVD)和外包层制造技术(套管法、等离子喷涂法、火焰水解法、溶胶--凝胶法)，生产常规单模光纤。用OVD或VAD制造芯棒加SOOT外包的预制棒工艺成本最低，因此大部分商业生产光纤预制棒均是采用此种方法。因此对用OVD或VAD制造的芯棒，需经过预制棒分析仪对其几何尺寸、光学参数进行检测，检测合格后进行外包层的制造，从而获得需要的光棒预制棒。生产的光纤预制棒又可分为在线拉丝棒和离线拉丝棒，并将制得的光前预制棒在光纤拉丝塔进行拉丝，从而制得光纤。

在用沉积法制造芯棒时，芯棒长度范围分布比较广泛。在用预制棒分析仪检测长度较短芯棒时，由于受设备限位和夹具的影响，测试区间不能全部覆盖芯棒长度，部分芯棒几何尺寸、光学参数无法获得，导致芯棒浪费或直接影响光纤相关参数。因此本发明就此缺陷研发出一种芯棒测试的辅助工具及测试方法，通过在芯棒上增加辅助装置，从而达到检测完整性的目的。

发明内容

本发明提供了一种通过使用一种辅助装置协助检测芯棒的方法和装置，从而提高了芯棒检测的完整性和效率。

本发明提供了一种芯棒的测试装置，包括测试设备夹具、芯棒、测试设备激光器、导轨、设备下限位，测试设备夹具用于夹持芯棒并可以沿导轨往下移动直到下限位，该测试装置进一步包括辅助装置，该辅助装置位于芯棒上端，该辅助装置用于协助完成芯棒的数据检测。

进一步，所述辅助装置包括：手柄、夹块、顶丝，其中手柄与夹块相连，夹块对芯棒进行夹持，并且通过顶丝进一步固定芯棒。

本发明还提供了一种芯棒的测试方法，其包括以下步骤：

步骤（1）在芯棒上端增加一个辅助装置；

步骤（2）测试设备夹具夹持带有辅助装置的芯棒沿导轨移动；

步骤（3）测试设备激光器对测试范围内的芯棒进行数据检测；

步骤（4）当测试设备夹具到达下限位时，测试设备夹具与测试设备激光器之间的长度被大部分辅助装置所代替，协助完成了芯棒的检测。

进一步，所述辅助装置包括：手柄、夹块、顶丝，其中手柄与夹块相连，夹块对芯棒进行夹持，并且通过顶丝进一步固定芯棒。

本发明通过在芯棒上端增加一辅助装置以协助芯棒检测，保证芯棒几何尺寸、光学参数检测数据的完整性，并能提高检测效率。

附图说明

附图1为未安装辅助装置的芯棒测试装置，包含：1、测试设备夹具；2、芯棒、3、测试设备激光器；4、导轨；5、设备下限位。

附图2为安装辅助装置的芯棒测试装置，包含：1、测试设备夹具；2、芯棒、3、测试设备激光器；4、导轨；5、设备下限位；6、辅助装置。

附图3为辅助装置的示意图，包含：7、手柄；8、夹块；9、顶丝。

具体实施方式

以下结合附图对本发明进行具体说明。

如图1所示为未安装辅助装置的直径均匀芯棒测试装置，其中包括测试设备夹具1，芯棒2，测试设备激光器3，导轨4以及设备下限位5，测试设备夹具1夹持芯棒2沿导轨4往下移动，测试设备激光器3对测试范围内的芯棒进行检测得到芯棒数据，当测试设备夹具1到达下限位5时，测试设备夹具1与测试设备激光器3之间的中间段芯棒无法到达测试设备激光器3的测试区域，导致无法获得这部分芯棒的芯棒数据，现有的处理方法是在长度允许的范围可进行调头检测，但这样增加检测的时间。为获得芯棒完整的检测数据，在芯棒上端增加一个辅助装置，当夹具到达下限位时，减少了测试设备夹具1与测试设备激光器3之间的中间段芯棒，以协助完成检测，如图2所示。通过增加辅助装置6，保证芯棒几何尺寸、光学参数检测数据的完整性，并能提供检测效率。如图3所示，为辅助装置的示意图，该辅助装置包含：手柄7、夹块8、顶丝9。其中手柄7与夹块8相连，夹块8对芯棒2进行夹持，并且通过顶丝9进一步固定。

根据本发明的方法，为获得芯棒完整的检测数据且提高测试效率，在芯棒2上端增加一个辅助装置6，当夹具到达下限位5时，夹具1与激光器3之间的长度被大部分辅助装置6所代替，减少了夹具1与激光器3中间段芯棒的长度，协助完成了芯棒的检测，如图示2所示。通过增加辅助测试装置，保证芯棒几何尺寸、光学参数检测数据的完整性，并能提供检测效率。

以上所述，仅是本发明典型实施例而已，并非对本发明的技术范围作任何限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施所做的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明的技术方案范围内。