[发明专利]WAT测试程式的备份方法和备份装置

说明书

技术领域

本发明涉及微电子技术领域，尤其涉及WAT测试（Wafer Acceptance Test，晶圆允收测试）领域，具体地说是一种WAT测试程式的备份方法和备份装置。

背景技术

在产品的开发阶段，根据不同测试条件进行WAT测试时，WAT测试程式通常会根据需求经常进行修改，因为现有WAT测试过程不会备份WAT测试程式，如果在一段时间以后想去查出之前的某个lot（产品）的具体测试条件会变得很困难。

中国专利（公开号：CN101256527A）公开了一种引导程序的备份方法及其备份装置，所述方法包括：设置两个存储引导程序的存储区，其中存储有需要进行备份的引导程序的存储区为主存储区，需要写入该需要进行备份的引导程序的存储区为备份存储区；提取所述主存储区中的引导程序代码，将该引导程序代码的硬件信息修改为所述备份存储区的硬件信息，并重新计算代码校验值，得到修改后的引导程序代码；将所述修改后的引导程序代码存储到所述备份存储区。该发明的引导程序的备份方法支持远程升级，且无需添加硬件，而且能够简化BOOT加载的流程，降低操作的复杂度。

中国专利（公开号：CN102455949A）公开了一种备份方法，先自一来源磁盘取得一来源信息，并建立一镜像信息，其中，该镜像信息包括一缓冲值，接着，根据该缓冲值的大小依序自该来源磁盘取得多笔欲备份数据，并依序建立多笔连续的备份数据块，其中，各该备份数据块包括一备份数据。当来源磁盘内所有的数据都经过读取建立成一备份数据块之后，将该些数据块、该来源信息和该镜像信息组合成一镜像文件。因此，藉由上述的步骤，提供一种降低镜像文件的大小且提高备份和还原的时间的备份方法。

上述两个专利均未解决现有WAT测试过程不会备份WAT测试程式，使得在一段时间以后想去查出之前的某个lot的具体测试条件会变得很困难的问题。如何根据测试条件在WAT测试时对WAT测试程式进行备份，是亟待解决的问题。

发明内容

针对上述存在的问题，本发明公开一种WAT测试程式的备份方法和备份装置，以克服现有技术中现有WAT测试过程不会备份WAT测试程式，使得在一段时间以后想去查出之前的某个lot的具体测试条件会变得很困难的问题。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种WAT测试程式的备份方法，其中，包括如下步骤：

提供一测试程式存储单元和一备份存储单元，其中，所述测试程式存储单元存储有初始WAT测试程式；

设定测试条件，根据所述测试条件和初始WAT测试程式确定WAT测试程式；

在WAT测试时，将所述WAT测试程式存储到所述备份存储单元。

上述的WAT测试程式的备份方法，其中，根据所述测试条件和所述初始WAT测试程式确定WAT测试程式，具体包括如下步骤：

根据所述测试条件判断是否需要修改所述初始WAT测试程式，若否，则所述WAT测试程式为所述初始WAT测试程式，若是，则在所述测试程式存储单元中修改所述初始WAT测试程式，所述WAT测试程式为修改后的初始WAT测试程式。

上述的WAT测试程式的备份方法，其中，在WAT测试时，将所述WAT测试程式存储到所述备份存储单元，具体包括如下步骤：

在WAT测试时，对所述WAT测试程式进行测试程式检查，在测试程式检查无误后，将所述WAT测试程式存储到所述备份存储单元。

上述的WAT测试程式的备份方法，其中，对所述WAT测试程式进行测试程式检查时，具体包括如下步骤：

对所述WAT测试程式进行测试程式检查，判断测试程式检查是否无误，若否，则重新设定测试条件，根据重新设定的测试条件和初始WAT测试程式重新确定WAT测试程式，若是，将所述WAT测试程式存储到所述备份存储单元。

上述的WAT测试程式的备份方法，其中，在判定测试程式检查无误后，将所述WAT测试程式存储到所述备份存储单元，具体包括如下步骤：

在判定测试程式检查无误后，获取当前时间，根据所述当前时间和所述测试条件，在所述备份存储单元中创建一备份文件夹；将所述WAT测试程式存储到所述备份文件夹中。

上述的WAT测试程式的备份方法，其中，所述备份文件夹为根据所述测试条件和所述当前时间命名的名称唯一的文件夹。

上述的WAT测试程式的备份方法，其中，在WAT测试时，将所述WAT测试程式存储到所述备份存储单元，具体包括如下步骤：