[发明专利]一种信号偏移校准方法和装置有效

专利信息
申请号: 201310553550.1 申请日: 2013-11-08
公开(公告)号: CN103595670B 公开(公告)日: 2017-07-21
发明(设计)人: 殷晔;常路;肇启明;王石记;安佰岳 申请(专利权)人: 北京航天测控技术有限公司
主分类号: H04L25/03 分类号: H04L25/03
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心11010 代理人: 梁军
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 信号 偏移 校准 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种信号偏移校准方法,其特征在于,包括:

分别对M路并行校准信号进行移位操作,以使移位后的M路所述并行校准信号等于同一预设信号,其中,每路并行校准信号为N位,M和N均为大于1的整数;其中,所述并行校准信号包括来自外部设备的校准脉冲;所述并行校准信号包括表征外部校准脉冲的一段高电平信号或低电平信号;

根据对M路所述并行校准信号的移位,分别对M路并行输入信号进行相应的移位,以校准所述M路并行输入信号间的偏移。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分别对所述M路并行校准信号进行移位操作,以使移位后的M路所述并行校准信号等于同一预设信号具体包括:

分别将M路所述并行校准信号与预设的一组匹配码进行匹配比较,各所述匹配码与形成所述预设信号所需要的移位位数相对应;

将每路所述并行校准信号分别左移0位至N-1位,以形成N个移位校准信号,所述移位校准信号的末位由所述并行校准信号的下一时刻的数据的最高位依次左移补充;

根据所述匹配比较的结果,从所述N个移位校准信号中选择一个输出,以使输出的所述移位校准信号等于所述预设信号。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述分别将所述M路并行校准信号与预设的一组匹配码进行匹配比较具体包括:确定所述M路并行校准信号与所述一组匹配码中的哪个匹配码相等,并设置对应的标志位;

所述根据所述匹配比较的结果,从所述N个移位校准信号中选择一个输出具体包括:根据设置的所述标志位从所述N个移位校准信号中选择一个输出。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述并行校准信号存储于第一寄存器,所述并行校准信号的下一时刻的数据存储于第二寄存器;

所述将每路所述并行校准信号分别左移0位至N-1位,以形成N个移位校准信号,所述移位校准信号的末位由所述并行校准信号的下一时刻的数据的最高位依次左移补充具体包括:通过所述第一寄存器和所述第二寄存器,将每路所述并行校准信号分别左移0位至N-1位,以形成N个移位校准信号,所述移位校准信号的末位由所述并行校准信号的下一时刻的数据的最高位依次左移补充。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述分别对M路并行校准信号进行移位操作之前,所述方法还包括:

使用M路串行校准信号分别表示接收到的校准脉冲;

将所述M路串行校准信号分别转换为M路并行校准信号。

6.一种信号偏移校准装置,其特征在于,包括:

校准移位部,用于分别对M路并行校准信号进行移位操作,以使移位后的M路所述并行校准信号等于同一预设信号,其中,每路并行校准信号为N位,M和N均为大于1的整数;其中,所述并行校准信号包括来自外部设备的校准脉冲;所述并行校准信号包括表征外部校准脉冲的一段高电平信号或低电平信号;

信号移位部,用于根据对M路所述并行校准信号的移位,分别对M路并行输入信号进行相应的移位,以校准所述M路并行输入信号间的偏移。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述校准移位部具体包括:

匹配单元,用于分别将M路所述并行校准信号与预设的一组匹配码进行匹配比较,各所述匹配码与形成所述预设信号所需要的移位位数相对应;

移位单元,用于将每路所述并行校准信号分别左移0位至N-1位,以形成N个移位校准信号,所述移位校准信号的末位由所述并行校准信号的下一时刻的数据的最高位依次左移补充;

选择单元,分别与所述匹配单元和所述移位单元相连,用于根据所述匹配单元的匹配比较结果,从所述移位单元形成的N个移位校准信号中选择一个输出,以使输出的所述移位校准信号等于所述预设信号。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述匹配单元,具体用于确定所述M路并行校准信号与所述一组匹配码中的哪个匹配码相等,并设置对应的标志位;

所述选择单元,具体用于根据所述匹配单元设置的所述标志位,从所述N个移位校准信号中选择一个输出。

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