[发明专利]集成电路标识自检验有效

专利信息
申请号: 201310551803.1 申请日: 2013-11-08
公开(公告)号: CN103902940A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 迪奥里奥·CJ 申请(专利权)人: 冀京秋
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00;G06K19/07;G06F11/08
代理公司: 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244 代理人: 孟湘明
地址: 中国香港新界沙田火炭*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 标识 检验
【权利要求书】:

1.一种用于无线射频识别集成电路以避免发送一损毁标识符至一RFID阅读器的方法,其特征在于,包括:

从一接收到的RF信号提取一运行电力;

用所述提取到的运行电力对一存储器给电;

从所述存储器取回一储存的标识符和一校验码;

基于所述校验码,确认所述储存的标识符被损毁;

接收来自所述RFID阅读器的指令;和

基于所述损毁确认,以一回应响应所述指令,其中所述回应包括一个可替代的标识符和一个损毁指示符两者中的至少其中之一。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述储存的标识符包括一代码,其中所述代码表示所述集成电路的一个属性和与所述集成电路相关的物品的一个属性两者中的至少其中之一。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校验码的至少一个数位被储存在一差分存储单元的互补一半。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的损毁指示符至少满足下述其中之一:

指示所述回应包括所述可替代标识符;和

包括协议控制信息,其中所述协议控制信息与一被改变标识符相对应。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校验码包括下述至少其中之一:

至少一个存储器冗余位;

至少一个校验位;

一校验和;

一循环冗余校验;

一散列函数输出;和

一错误纠正码。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括:

基于所述回应,计算一循环冗余校验;和

将所述循环冗余校验包括在所述回应中。

7.一种用于无线射频集成电路以避免发送一损毁标识符至一RFID阅读器的方法,其特征在于,包括:

从一接收到的RF信号提取一运行电力;

用所述提取到的运行电力对一存储器给电;

从所述存储器取回一储存的标识符和一校验码;

基于所述校验码,确认所述储存的标识符被损毁;

接收来自所述RFID阅读器的指令;和

基于所述损毁的确认,抑制对所述指令回应。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,进一步包括:

从所述存储器中重新取回所述储存的标识符和所述校验码;

基于所述重新取回的校验码,确认所述重新取回的储存的标识符是正确的;和

回应所述指令。

9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述校验码的至少一个数位被储存在一差分存储单元的互补一半。

10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,进一步包括:

基于确认所述储存的标识符是损毁的,电源循环所述集成电路和所述存储器其中之一。

11.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述校验码包括下述至少其中之一:

至少一个存储器冗余位;

至少一个校验位;

一校验和;

一循环冗余校验;

一散列函数输出;和

一错误纠正码。

12.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,进一步包括下述至少其中之一:

声明集成电路的一毁灭标记;

将一错误码写入所述存储器;

声明一在所述存储器中的错误标记;

调整所述集成电路的一期间标记;和

基于确认所述储存的标识符被损毁,重写所述存储器的至少一部分。

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