[发明专利]电子装置测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子装置测试系统，尤指一种通过嵌入式控制器测试的电子装置测试系统。

背景技术

为了给最终用户提供质量可靠的计算机，计算机出厂前都要经过严格的检测。目前的笔记本型电脑由于受到空间的限制，很多部件是通过EC(Embedded Controller，嵌入式控制器)控制的，如计算机启动，键盘控制器，发光二极管(Light Emitting Diode，LED)灯状态，电池充放电，温度传感器等。因此，在对这些功能检测时可以借助于EC命令的方法进行检测。目前笔记本电脑的测试中已经应用了这一测试技术方法。但是，由于EC控制方法比较底层，每一款机型的EC命令不同，地址空间不同，因此每一款机型都要开发一套测试程序，这样会导致开发周期长，成本增加。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种通过嵌入式控制器测试的电子装置测试系统。

一种电子装置测试系统，用于测试一电子装置，所述电子装置包括一嵌入式控制器，所述系统包括一数据模块及一应用模块，所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。

相对现有技术，本发明电子装置测试系统中，所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，用以完成对不同的电子装置的测试。

附图说明

图1为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的模块图。

图2为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的系统架构图。

图3为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的原理流程图。

具体实施方式

请参阅图1，为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的模块图。所述电子装置测试系统用于测试一电子装置内的电源状态，计算机唤醒，中央处理器(Central ProcessingUnit，CPU)工作状态，温度，风扇转速测量与设置，电池充放电，电池温度，系统管理总线(System Management Bus，SMBus)参数查询/设置，各发光二极管(Light EmittingDiode，LED)状态查询/改变状态，Audio静音，一些状态寄存器的控制设置，无线(Wireless)设备(如WiFi，蓝牙Bluetooth等)设置，即插即用设备激活，烧录基本输入输出系统等。所述电子装置包括一嵌入式控制器(Embedded Controller，EC)，以上这些状态可以通过嵌入式控制器命令查询到，甚至改变所述电子装置的这些状态。

所述电子装置测试系统包括一数据模块、一应用模块、一封装模块及一驱动模块。所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。所述封装模块封装所述不同的嵌入式控制器的嵌入式控制器命令。

请参阅图2，为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的系统架构图。按照功能划分，将系统架构分成应用层、操作系统层、驱动层及硬件层。所述嵌入式控制器处于硬件层上，其是一个16位单片机。它内部本身也有一定容量的闪存来存储代码。在电子装置开启的过程中，所述嵌入式控制器控制着绝大多数重要信号的时序。在笔记本电脑中，所述嵌入式控制器是一直开着的，无论是在开机或者是关机状态，除非把电池和适配器完全卸除。在关机状态下，所述嵌入式控制器一直保持运行，并在等待用户的开机信息。而在开机后，所述嵌入式控制器更作为键盘控制器，充电指示灯以及风扇等设备的控制，它甚至控制着系统的待机、休眠等状态。