[发明专利]用光纤布拉格光栅传感器测定温度和放射线的装置及方法有效
| 申请号: | 201310535441.7 | 申请日: | 2013-10-31 |
| 公开(公告)号: | CN103808428B | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
| 发明(设计)人: | 李南昊;金锺烈;曺在完 | 申请(专利权)人: | 韩国原子力研究院;韩国水力原子力(株) |
| 主分类号: | G01K11/32 | 分类号: | G01K11/32;G01T1/00 |
| 代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司11467 | 代理人: | 王金双 |
| 地址: | 韩国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用光 布拉格 光栅 传感器 测定 温度 放射线 装置 方法 | ||
1.一种将光纤布拉格光栅传感器同时作为温度和放射线量传感器的装置,其特征在于:
包括:
曝露于放射线下的光纤;
设置在上述光纤的芯上的第1光纤布拉格光栅传感器,及
因温度所导致的波长位移量与上述第1光纤布拉格光栅传感器相同,并与上述第1光纤布拉格光栅传感器间隔设置的第2光纤布拉格光栅传感器;
设置在上述第2光纤布拉格光栅传感器周围具有放射线屏蔽半值层厚度(B)的中空型放射线屏蔽构件;
其中,将上述第1光纤布拉格光栅传感器测定的放射线量与被上述中空型放射线屏蔽构件包围的第2光纤布拉格光栅传感器测定的放射线量值比较,从而可以对温度和放射线量进行测定,
上述放射线量的测定是将上述第1光纤布拉格光栅传感器测定的波长位移量与第2光纤布拉格光栅传感器测定的波长位移量差值乘以2求出总放射线量,
上述温度的测定是从上述第1光纤布拉格光栅传感器测定的波长位移量减去因上述总放射线量所导致的波长位移量从而求出因温度所导致的波长位移量。
2.如权利要求1所述的将光纤布拉格光栅传感器同时作为温度和放射线量传感器的装置,其特征在于:
上述中空型放射线屏蔽构件由钨或者铅构成。
3.如权利要求2所述的将光纤布拉格光栅传感器同时作为温度和放射线量传感器的装置,其特征在于:
在上述中空型放射线屏蔽构件内侧还设置有能支撑上述光纤的支撑构件。
4.如权利要求2所述的将光纤布拉格光栅传感器同时作为温度和放射线量传感器的装置,其特征在于:
上述中空型放射线屏蔽构件以光纤布拉格光栅长度(L)的1.5至3倍长度包围上述第2光纤布拉格光栅传感器。
5.如权利要求2所述的将光纤布拉格光栅传感器同时作为温度和放射线量传感器的装置,其特征在于:
上述中空型放射线屏蔽构件的内侧直径为光纤布拉格光栅直径(D)的1.1至3倍。
6.一种利用光纤布拉格光栅传感器测定温度和放射线量的方法,即对于利用权利要求1至5中的任意一项所述的装置测定温度和放射线量的方法来说,其特征在于,包括:
从上述第1光纤布拉格光栅传感器及第2光纤布拉格光栅传感器测定波长位移量的S1步骤;
计算出第1光纤布拉格光栅传感器测定的波长位移量与第2光纤布拉格光栅传感器测定的波长位移量差值的S2步骤;
将与上述S2步骤中计算的波长位移量差值相等的放射线量乘以2求出总放射线量的S3步骤;
从第1光纤布拉格光栅传感器测定的波长位移量减去因在S3步骤中求出的总放射线量所导致的波长位移量从而计算出因温度所导致的波长位移量的S4步骤;
通过上述S4步骤中求出的因温度所导致的波长位移量求出温度的S5步骤。
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