[发明专利]全自动清洗机在审
申请号: | 201310534562.X | 申请日: | 2013-11-01 |
公开(公告)号: | CN103551344A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 张卫国;李启庆;寇明虎 | 申请(专利权)人: | 苏州辰轩光电科技有限公司 |
主分类号: | B08B7/04 | 分类号: | B08B7/04 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陆花 |
地址: | 215129 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 全自动 清洗 | ||
技术领域
本发明涉及清洗设备领域,特别涉及一种全自动清洗机。
背景技术
晶片在制程过程中所沾附的化学试剂或杂质,必须经由清洗机适时予以清洗。目前,多是通过人工将晶片放入到清洗机清洗,清洗完成后再由人工取出,并拿到烘干机中烘干,操作不便,且浪费人力物力。
发明内容
本发明提供一种全自动清洗机,实现晶片清洗的全自动化,提高晶片清洗效率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种全自动清洗机,包括:机壳、依次设置在所述机壳内的进料装置、取片装置、兆声清洗装置、甩干装置以及出料装置;其中,所述取片装置在所述进料装置、兆声清洗装置、甩干装置以及出料装置之间移动送料。
作为优选,所述进料装置包括水槽和进料气缸,进料气缸设置在水槽顶部,用于吸取放置在水槽中的晶片。
作为优选,所述取片装置包括丝杆、设置在所述丝杆上的多个机械手以及控制各机械手动作的取片气缸。
作为优选,所述兆声清洗装置包括第一兆声喷淋装置、晶片刷洗装置和第二兆声喷淋装置,其中,所述晶片刷洗装置设置在所述第一、第二兆声喷淋装置的中间。
作为优选,所述第一、第二兆声喷淋装置分别包括:兆声波发生器、喷淋装置、吸附装置和伺服电机;其中,兆声波发生器和喷淋装置设置于吸附装置的上方,用于对放置在吸附装置上的晶片进行喷淋清洗,所述伺服电机控制所述吸附装置旋转。
作为优选,所述甩干装置的顶部采用喷气装置。
作为优选,所述出料装置采用两对称设置的存料槽。
作为优选,所述兆声清洗装置、甩干装置以及出料装置的顶端由同一气缸控制移动。
作为优选,所述机壳上与取料装置和出料装置对应的位置上分别设置有窗口。
作为优选,所述机壳的底部还设置有活动轮。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:本发明采用通过将用于清洗晶片的各装置集成到一个机壳内,并由取片装置移动送料,实现晶片的全自动清洗,提高了晶片的清洗效率,节省生产成本。
附图说明
图1为本发明一具体实施方式中全自动清洗机的结构示意图;
图2为本发明一具体实施方式中全自动清洗机的侧视图;
图3为本发明一具体实施方式中第一兆声喷淋装置的结构示意图。
图中:10-机壳、101-活动轮、102-窗口、20-进料装置、201-进料气缸、202-水槽、30-取片装置、301-取片气缸、302-机械手、303-丝杆、40-第一兆声喷淋装置、401-兆声波发生器、402-喷淋装置、403-吸附装置、404-伺服电机、50-晶片刷洗装置、60-第二兆声喷淋装置、70-甩干装置、80-出料装置、90-气缸。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。需说明的是,本发明附图均采用简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参照图1~3,本发明提供的全自动清洗机,包括:机壳10、依次设置在所述机壳10内的进料装置20、取片装置30、兆声清洗装置、甩干装置70以及出料装置80;所述兆声清洗装置包括第一兆声喷淋装置40、晶片刷洗装置50和第二兆声喷淋装置60,所述晶片刷洗装置50设置在所述第一、第二兆声喷淋装置40、60的中间;所述取片装置30在所述进料装置20、兆声清洗装置、甩干装置70以及出料装置80之间移动送料。本发明通过将用于清洗晶片的各装置集成到一个机壳10内,并由取片装置30移动送料,实现晶片的全自动清洗,提高了晶片的清洗效率,节省生产成本。
请继续参照图1~3,所述进料装置20包括水槽202和进料气缸201,进料气缸201设置在水槽顶部,用于吸取放置在水槽202中的晶片。需要强调的是,晶片放置在水槽202中的水平液面下、避免晶片受空气污染。进料气缸201将晶片取出后,由取片装置30移动到第一兆声喷淋装置40处,以进行后续清洗动作。
作为优选,所述取片装置30包括丝杆303、设置在所述丝杆303上的多个机械手302以及控制各机械手302动作的取片气缸301。工作时,所述取片气缸301带动机械手302上的晶片移动,实现晶片在各装置之间的自动转移。
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