[发明专利]图像抖动校正设备、光学设备和摄像装置

权利要求书

1.一种图像抖动校正设备，其包括：

可动构件，其被构造成保持图像抖动校正构件；

固定构件，其被构造成以使得所述可动构件能够沿着以转动中心点为球心的球面移动的方式来保持所述可动构件；和

电磁驱动单元，其被构造成具有磁体和线圈，所述磁体和所述线圈设置于所述可动构件和所述固定构件中的彼此相对的部分，

其中，所述磁体和所述线圈相对于与光轴垂直的方向倾斜地布置，使得所述线圈通电时产生的驱动力的方向与以所述转动中心点为球心的球面的切线方向近似一致。

2.根据权利要求1所述的图像抖动校正设备，其中，所述磁体和所述线圈的彼此相对的部分不是以所述转动中心点为球心的球面。

3.根据权利要求1所述的图像抖动校正设备，其中，在包括所述校正构件的光轴和彼此相对的所述磁体或所述线圈的几何中心的截面中，所述磁体或所述线圈的相对表面的几何中心处的法线相对于所述光轴倾斜，并且所述法线和所述光轴的交点与所述转动中心点被定位在所述校正构件的同一侧。

4.根据权利要求3所述的图像抖动校正设备，其中，在所述线圈的面对所述磁体的相对表面或者所述磁体的面对所述线圈的相对表面设置有平面部，并且从所述转动中心点至所述平面部的垂线的垂足被定位在半径为从所述平面部的几何中心到所述光轴的距离的圆内。

5.根据权利要求4所述的图像抖动校正设备，其中，从所述转动中心点至所述平面部的所述垂线的垂足被定位在所述磁体或所述线圈的相对表面内。

6.根据权利要求4所述的图像抖动校正设备，其中，当在所述校正构件和所述光轴交叉的点之中，靠近所述转动中心点的点被指定为点C1，远离所述转动中心点的点被指定为点C2，从所述转动中心点到点C1的距离被指定为L2，从所述转动中心点到点C2的距离被指定为L3，所述校正构件的半径被指定为R2，保持所述校正构件的所述可动构件的最外周的半径被指定为R3，所述平面部的法线相对于所述光轴所构成的角度被指定为θ，并且反正切函数被指定为Atan时，

所述图像抖动校正设备满足以下关系：

Atan（R2/L3）<θ<Atan（R3/L2）。

7.根据权利要求5所述的图像抖动校正设备，其中，当在所述校正构件和所述光轴交叉的点之中，靠近所述转动中心点的点被指定为点C1，远离所述转动中心点的点被指定为点C2，从所述转动中心点到点C1的距离被指定为L2，从所述转动中心点到点C2的距离被指定为L3，所述校正构件的半径被指定为R2，保持所述校正构件的所述可动构件的最外周的半径被指定为R3，所述平面部的法线相对于所述光轴所构成的角度被指定为θ，并且反正切函数被指定为Atan时，

所述图像抖动校正设备满足以下关系：

Atan（R2/L3）<θ<Atan（R3/L2）。

8.根据权利要求4所述的图像抖动校正设备，其中，在包括所述光轴和所述平面部的几何中心的截面中，通过该几何中心的法线通过所述转动中心点。

9.根据权利要求4所述的图像抖动校正设备，还包括被构造成检测所述磁体的磁性的磁检测单元，

其中，所述磁检测单元与所述磁体或所述线圈相对，并且所述磁检测单元在所述可动构件被定位在可动范围的中心的状态下布置在从所述转动中心点至所述平面部的垂线上。

10.根据权利要求3所述的图像抖动校正设备，其中，在所述线圈的面对所述磁体的相对表面或所述磁体的面对所述线圈的相对表面设置有圆筒表面部。

11.根据权利要求10所述的图像抖动校正设备，其中，所述圆筒表面部的转动中心轴线通过所述转动中心点。

12.根据权利要求10所述的图像抖动校正设备，其中，所述圆筒表面部的转动中心轴线平行于或垂直于所述电磁驱动单元的驱动方向。

13.根据权利要求11所述的图像抖动校正设备，其中，所述圆筒表面部的转动中心轴线平行于或垂直于所述电磁驱动单元的驱动方向。

14.根据权利要求10所述的图像抖动校正设备，其中，在所述磁体和所述线圈的相对表面之中，靠近所述转动中心点的相对表面的曲率半径比远离所述转动中心点的相对表面的曲率半径小。